扩展电路、测试仪及测试方法技术

本发明专利技术涉及一种扩展电路、及测试仪及测试方法。该扩展电路包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；串行输入端，用于与测试仪的控制位板卡连接，并接收所述控制位板卡输出的串行信号；移位脉冲输入端，用于输入移位脉冲信号；所述移位寄存器用于根据所述移位脉冲信号将所述串行信号转化为多位所述并行信号后通过多个所述并行输出端输出，进而控制与所述并行输出端连接的各个继电器的导通和关断。本申请通过控制位板卡的一个控制位通道控制多个继电器的导通和关断，达到增加测试仪控制的继电器的数量的目的，消除了测试及电气控制位通道数对并行测试SITE数的限制，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
扩展电路、测试仪及测试方法
本专利技术涉及半导体测试
，特别是涉及一种扩展电路，一种测试仪及一种测试方法。
技术介绍
为了降低测试仪测试芯片的测试成本，需要提升并行测试的SITE数，一种示例性的测试仪配置的继电器控制位通道数为128个，每个继电器控制位通道对应控制1个继电器，当集成电路测试电路所需要的继电器数量超过16个时，8site并行测试就已经无法实现了，测试仪继电器控制位通道数的成为提升SITE数的瓶颈之一。通常模拟修调产品(如电源管理类芯片)需要修调2-3个或以上的参数，每个参数的修调一般需要用到5-8个继电器，因此，每颗芯片测试时需要使用20-30个继电器，测试仪继电器控制位通道数很明显已经制约了并行测试SITE数和测试效率的提升。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述测试仪继电器控制位通道数不足的问题，提供一种扩展电路、一种测试仪和一种测试方法。一种扩展电路，应用于测试仪，包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；>串行输入端，用于与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种扩展电路，应用于测试仪，其特征在于，包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：/n多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；/n串行输入端，用于与所述测试仪的控制位板卡连接，并接收所述控制位板卡输出的串行信号；/n移位脉冲输入端，用于输入移位脉冲信号；/n所述移位寄存器用于根据所述移位脉冲信号将所述串行信号转化为多位并行信号后通过多个所述并行输出端输出，进而控制与所述并行输出端连接的各个继电器的导通和关断。/n

【技术特征摘要】
1.一种扩展电路，应用于测试仪，其特征在于，包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：
多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；
串行输入端，用于与所述测试仪的控制位板卡连接，并接收所述控制位板卡输出的串行信号；
移位脉冲输入端，用于输入移位脉冲信号；
所述移位寄存器用于根据所述移位脉冲信号将所述串行信号转化为多位并行信号后通过多个所述并行输出端输出，进而控制与所述并行输出端连接的各个继电器的导通和关断。


2.根据权利要求1所述的扩展电路，其特征在于，所述移位寄存器还包括串行输出端，所述扩展电路包括2个级联的移位寄存器，前一级移位寄存器的串行数据输出端与后一级移位寄存器的串行数据输入端连接，前一级移位寄存器的移位脉冲输入端与后一级移位寄存器的移位脉冲输入端输入相同的移位脉冲信号。


3.根据权利要求1所述的扩展电路，其特征在于，所述移位脉冲输入端与所述控制位板卡连接，用于接收所述控制位板卡输入的移位脉冲信号；
所述移位寄存器还包括：
存储脉冲输入端，用于输入存储脉冲信号；
使能端，用于输入使能信号。


4.根据权利要求1所述的扩展电路，其特征在于，所述扩展电路包括第一电源模块，所述移位脉冲输入端与所述第一电源模块相连，用于接收所述第一电源模块输入的移位脉冲信号。


5.根据权利要求1所述的扩展电路，其特征在于，所述扩展电路还包括驱动电路；
所述驱动电路的多个输入端与多个所述并行输出端一一对应连接，所述驱动电路的多个输出端与...

【专利技术属性】
技术研发人员：余武，
申请(专利权)人：华润赛美科微电子深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44