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本发明涉及一种扩展电路、及测试仪及测试方法。该扩展电路包括移位寄存器和多个继电器，所述移位寄存器包括：多个并行输出端，用于与所述继电器一一对应连接；串行输入端，用于与测试仪的控制位板卡连接，并接收所述控制位板卡输出的串行信号；移位脉冲输入端...
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