【技术实现步骤摘要】
一种电子部件检测设备及电子部件检测方法
本专利技术涉及电子部件检测领域，尤其涉及一种电子部件检测设备及电子部件检测方法。
技术介绍
随着科技的发展，电子部件的重要性越发凸显，现有一种电子部件，如图1所示，有显示部10和设于显示部10上部的液晶显示器11，挠性基板(FPC)12与之相连。如图2所示，为电子部件的剖面图，显示部10下部设有透明基板13。显示部10由通过液晶层相向的基板与透明基板13相向配置构成，透明基板13比显示部10大；挠性基板12由透明的绝缘性树脂和绝缘性树脂埋设的导电线构成，导电线的端部导出构成接续垫片14，透明基板13和挠性基板12相互连接，透明基板13和挠性基板12的接续利用非均质性导电膜(ACF)16。非均质性导电膜16包括有绝缘性质的胶水17和通过胶水17分散的导电粒子18，非均质性导电膜16下部设有电极垫片15，非均质性导电膜16将接续垫片14和电极垫片15在电子部件的厚度方向粘合。非均质性导电膜16配置粘合的部分也可以称为粘合部，粘合部电极垫片15在透明基板13处形成凹陷，形成压痕19。...
【技术保护点】
1.一种电子部件检测设备，所述电子部件检测设备包括设有拍摄模块的图像采集单元和设有检测模块的图像处理单元，其特征在于，所述图像采集单元包括有可提供两种及以上不同类型光线的照射模块，所述拍摄模块配置为拍摄电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像，所述检测模块配置为可对拍摄的电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像进行检测。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子部件检测设备，所述电子部件检测设备包括设有拍摄模块的图像采集单元和设有检测模块的图像处理单元，其特征在于，所述图像采集单元包括有可提供两种及以上不同类型光线的照射模块，所述拍摄模块配置为拍摄电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像，所述检测模块配置为可对拍摄的电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像进行检测。
2.根据权利要求1所述的电子部件检测设备，其特征在于，所述图像处理单元还包括图像抽取模块，所述图像抽取模块连接拍摄模块，从拍摄模块抽取出电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像，进行分类处理后，传输至所述检测模块进行检测。
3.根据权利要求2所述的电子部件检测设备，其特征在于，所述检测模块内预设有多个分别包含不同检测机制的分析模块，所述分析模块对分类处理后的电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像分别进行检测。
4.根据权利要求3所述的电子部件检测设备，其特征在于，所述图像处理单元还包括可将所有图像数据进行存储的存储单元，所述存储单元还存储有分析模块检测所需的判断阀值。
5.根据权利要求4所述的电子部件检测设备，其特征在于，所述图像处理单元连接有图像显示单元，所述图像显示单元获取图像抽取模块抽取的电子部件被检部在不同类型光线照射下的图像并可视化。
6.根据权利要求1至5之一所...
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