利用超短T**弛豫进行细胞测量的系统和方法技术方案

测量标记细胞的方法，其包括：　用造影剂离体标记细胞；　采用磁共振（ＭＲ）成像监测所述标记细胞的迁移、增殖和／或归巢；　通过获得一系列自旋回波图像测量具有Ｔ↓［２］↑［＊］衰变曲线的Ｔ↓［２］↑［＊］弛豫，其包括下述步骤：　 　（ａ）诱导第一自旋回波信号产生第一自旋回波图像；　（ｂ）诱导多个自旋回波信号产生一系列从适合的回波移位到所述Ｔ↓［２］↑［＊］衰变的额外的自旋回波图像；并　（ｃ）采用指数拟合导出Ｔ↓［２］↑［＊］图。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】背景1.
本公开涉及使用磁共振成像来测量快速衰变的T2*弛豫用于对标记细胞进行有效定量的系统和方法。所公开的系统和方法在许多应用(包括细胞运输和细胞治疗)中有用。2.
技术介绍
利用干细胞和免疫细胞，以修复和血管重建为目的的细胞治疗，正日益应用于临床试验中。细胞到靶器官的准确递送能区分成与败。定量递送到靶组织的细胞数目对于优化细胞治疗的剂量和时机有着重要的作用。超顺磁性氧化铁(SPIO)试剂已经用于离体标记细胞，使得研究者有能力用磁共振(MR)成像监测这些细胞的迁移、增殖和归巢。SPIO标记产生了强烈的弛豫率(R2*)效应，其随铁浓度增加而线性地增加。R2*定义为1/T2*。通常利用多梯度回波成像得到T2*弛豫。在包含高浓度铁标记细胞的组织中，T2*可以是超短的。在示例性的情况中，T2*低于1到2毫秒，但精确的T2*时间随应用而不同。梯度回波的回波时间一般受限于硬件设置。在实际设置中获得超短回波时间不是微不足道的。因此，对于常规梯度回波成像而言，组织中具有超短T2*本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量标记细胞的方法，其包括：　用造影剂离体标记细胞；　采用磁共振（ＭＲ）成像监测所述标记细胞的迁移、增殖和／或归巢；　通过获得一系列自旋回波图像测量具有Ｔ↓［２］↑［＊］衰变曲线的Ｔ↓［２］↑［＊］弛豫，其包括下述步骤：（ａ）诱导第一自旋回波信号产生第一自旋回波图像；　（ｂ）诱导多个自旋回波信号产生一系列从适合的回波移位到所述Ｔ↓［２］↑［＊］衰变的额外的自旋回波图像；并　（ｃ）采用指数拟合导出Ｔ↓［２］↑［＊］图。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1、测量标记细胞的方法，其包括：
用造影剂离体标记细胞；
采用磁共振(MR)成像监测所述标记细胞的迁移、增殖和/或归巢；
通过获得一系列自旋回波图像测量具有T2*衰变曲线的T2*弛豫，其包
括下述步骤：
(a)诱导第一自旋回波信号产生第一自旋回波图像；
(b)诱导多个自旋回波信号产生一系列从适合的回波移位到所述
T2*衰变的额外的自旋回波图像；并
(c)采用指数拟合导出T2*图。
2、根据权利要求1所述的方法，其中所述造影剂是超顺磁性氧化铁
(SPIO)。
3、根据权利要求1所述的方法，其中T2*是超短的。
4、根据权利要求3所述的方法，其中T2*随应用不同而不同，并在某
些应用中小于或等于2毫秒。
5、根据权利要求1所述的方法，其中所述第一自旋回波信号和所述第

【专利技术属性】
技术研发人员：刘巍，H·达恩克，T·舍夫特，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL