用于照明装置的检测设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于照明装置的检测设备。本发明专利技术涉及一种以额定电压（Ｖｎ）和额定频率（ｆｎ）运行的发光装置（３）的检测设备（１），在此检测电压（Ｖｐ）以检测频率（ｆｐ）与发光装置（３）进行电容性耦合，耦合后的检测电压（Ｖｐａ）相当于额定电压（Ｖｎ），耦合后的检测频率（ｆｐａ）相当于额定频率（ｆｎ）。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种权利要求1上级概念中提到的用于照明装置(Leuchtmittel)的检测设备。
技术介绍
现有技术中已知各种不同的用于照明装置的检测设备。例如，US 3,688,185中提到了一种基于两种不同测量原理的用于日光灯的检测设备。一方面，这种检测设备包括用于日光灯的螺旋灯丝的导通性检测(Durchgangspruefung)的装置，通过该装置检测经过日光灯的螺旋灯丝是否能够产生导电接触。此外，还设置线圈，借助该线圈可以将高频电磁场耦入日光灯中，以便检查是否存在日光灯的足够的气体填充。如果存在日光灯的足够气体填充，则其通过高频电磁场而被足够地激励，以使日光灯至少逐段地发光。US 5,047,721介绍了一种装置，用于确定具有多个串联连接的灯的灯系统(Lichterkette)中发生故障的灯，其中通过检测设备的电容性耦合来探测故障灯上的电压。这些已知检测设备的缺点是，无法检查集成有镇流电子装置(Vorschalt-Elektronik)的照明装置。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于以额定电压（Ｖ↓［ｎ］）和额定频率（ｆ↓［ｎ］）运行的照明装置（３）的检测设备（１），其中测试电压（Ｖ↓［ｐ］）以测试频率（ｆ↓［ｐ］）电容性耦合到所述照明装置（３），　其特征在于，　所耦合的测试电压（Ｖ↓［ｐａ］）对应 于所述额定电压（Ｖ↓［ｎ］），所耦合的测试频率（ｆ↓［ｐａ］）对应于所述额定频率（ｆ↓［ｎ］）。

【技术特征摘要】
DE 2007-6-22 102007029230.01.一种用于以额定电压(Vn)和额定频率(fn)运行的照明装置(3)的检
测设备(1)，其中测试电压(Vp)以测试频率(fp)电容性耦合到所述照明装
置(3)，
其特征在于，
所耦合的测试电压(Vpa)对应于所述额定电压(Vn)，所耦合的测试频率
(fpa)对应于所述额定频率(fn)。
2.如权利要求1所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置绝缘的接触面(7)，以耦合测试电压(Vp)。
3.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置测量装置(8)，用于测量所耦合的测试电压(Vpa)。
4.如上述任一权利要求所述的检测设备(1)，
其特征在于，
设置调节装置(9)，用于通过将所测得的测试电压(Vpm)与基准电压(Vref)
相...

【专利技术属性】
技术研发人员：J赫瑞，M安德利森，M斯科瓦尔，
申请(专利权)人：胡佛丹姆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]