【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术涉及集成电路领域,具体为一种集成电路测试装置。
技术介绍
市场上集成电路竞争非常激烈,大部份国内外芯片制造厂都具备各种集成电路的制造能力,而测试是影响价格的关键因素之一,在兼顾测试可靠性的前提下,提高测试效率并降低测试成本。但是,现有的测试装置结构较大不便于对其进行移动,并且操作过程较为繁琐,在使用时不便于测试者对电路板进行大规模的测试,从而导致样本较小影响测试的准确性。针对上述问题,本技术设计了一种集成电路测试装置,以此来解决上述提出的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为了实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种集成电路测试装置,包括底座和测试仪,所述测试仪设置于底座上侧,所述底座底端面上固定连接有一组支撑座,所述底座上端面上开设有放置槽,所述放置槽内侧设有用于对电路板进行夹持固定的夹持机构,所述放置槽下端面上开设有固定槽,所述固定槽内侧设有一组用于对电路板进行连接的导片,所述导片与固定槽底面 ...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置,包括底座(1)和测试仪(10),所述测试仪(10)设置于底座(1)上侧,其特征在于:所述底座(1)底端面上固定连接有一组支撑座(2),所述底座(1)上端面上开设有放置槽(3),所述放置槽(3)内侧设有用于对电路板进行夹持固定的夹持机构(4),所述放置槽(3)下端面上开设有固定槽(5),所述固定槽(5)内侧设有一组用于对电路板进行连接的导片(6),所述导片(6)与固定槽(5)底面连接处设有用于对其进行复位的复位机构(7),所述放置槽(3)两端侧壁上开设有透气孔(8),所述底座(1)一端侧壁上转动连接盖板(9),所述盖板(9)靠近底座(1)的一端侧壁上 ...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置,包括底座(1)和测试仪(10),所述测试仪(10)设置于底座(1)上侧,其特征在于:所述底座(1)底端面上固定连接有一组支撑座(2),所述底座(1)上端面上开设有放置槽(3),所述放置槽(3)内侧设有用于对电路板进行夹持固定的夹持机构(4),所述放置槽(3)下端面上开设有固定槽(5),所述固定槽(5)内侧设有一组用于对电路板进行连接的导片(6),所述导片(6)与固定槽(5)底面连接处设有用于对其进行复位的复位机构(7),所述放置槽(3)两端侧壁上开设有透气孔(8),所述底座(1)一端侧壁上转动连接盖板(9),所述盖板(9)靠近底座(1)的一端侧壁上设有测试仪(10)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述底座(1)前端侧壁上开设有安装口,所述安装口内安装有用于对放置槽(3)内侧进行观察的透明观察窗(101),所述盖板(9)上侧固定连接有用于对其进行提升的把手(102)。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置,其特征在于:所述夹持机构(4)包括固定连接于放置槽(3)侧壁上的一组伸缩杆(401),一组所述伸缩杆(401)远离放置槽(3)侧壁的一端固定连接有夹板(402),所述伸缩杆(401)...
【专利技术属性】
技术研发人员:来楚楚,
申请(专利权)人:北京旺达世嘉科技发展有限公司,
类型:新型
国别省市:北京;11
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