【技术实现步骤摘要】
校准装置及自动测试设备
本技术涉及测试
更具体地，涉及一种校准装置及自动测试设备。
技术介绍
在测试领域中，对于芯片等器件的测试，通常采用自动测试设备(ATE，AutomaticTestEquipment)实现。以对于芯片的测试为例，通常，自动测试设备插接有多个测量板卡，利用其多个测量板卡向芯片发送测试信号。为保证测量板卡发送的测试信号的精确性，需要首先对自动测试设备的测量板卡进行校准，也可直接称为对自动测试设备进行校准。自动测试设备通常支持多种不同类型的测量板卡的混合使用，以满足客户的不同需求配置。目前，对于自动测试设备的测量板卡的校准方式为需要为每一类型的测量板卡制作一块校准板卡，将校准板卡与对应类型的测量板卡连接，校准板卡中的直流信号标准源测量来自每个测量板卡的多路待直流校准信号(测量板卡输出的多路直流信号)，校准板卡中的时序信号标准源测量来自每个测量板卡的多路待时序校准信号(测量板卡输出的多路数字信号)，利用部署于自动测试设备的上位机软件计算各路待直流校准信号及各路待时序校准信号的误差参数并烧写入测量...
【技术保护点】
1.一种用于自动测试设备的校准装置，所述自动测试设备包括多个测量板卡，其特征在于，该校准装置包括与多个测量板卡一一对应连接的多个校准子板及分别与所述多个校准子板通过标准化接口连接的校准母板，所述校准子板的类型与与其对应的测量板卡的类型相匹配，所述校准母板设置有直流信号标准源和时序信号标准源，所述标准化接口包括直流校准信号接口和时序校准信号接口；/n所述校准子板，用于切换来自对应测量板卡的多路待直流校准信号的传输通道以通过所述直流校准信号接口将所述多路待直流校准信号单路输出至校准母板，切换来自对应测量板卡的多路待时序校准信号的传输通道以通过所述时序校准信号接口将所述多路待时序...
【技术特征摘要】
1.一种用于自动测试设备的校准装置，所述自动测试设备包括多个测量板卡，其特征在于，该校准装置包括与多个测量板卡一一对应连接的多个校准子板及分别与所述多个校准子板通过标准化接口连接的校准母板，所述校准子板的类型与与其对应的测量板卡的类型相匹配，所述校准母板设置有直流信号标准源和时序信号标准源，所述标准化接口包括直流校准信号接口和时序校准信号接口；
所述校准子板，用于切换来自对应测量板卡的多路待直流校准信号的传输通道以通过所述直流校准信号接口将所述多路待直流校准信号单路输出至校准母板，切换来自对应测量板卡的多路待时序校准信号的传输通道以通过所述时序校准信号接口将所述多路待时序校准信号单路输出至校准母板。
2.根据权利要求1所述的校准装置，其特征在于，所述校准子板包括第一继电器网络和第二继电器网络，所述第一继电器网络包括一一对应地设置于多路待直流校准信号的传输通道中的多个第一继电器，所述第二继电器网络包括一一对应地设置于多路待时序校准信号的传输通道中的多个第二继电器，所述第一继电器网络用于实现对单路输出的待直流校准信号的切换，所述第二继电器用于实现对单路输出的待时序校准信号的切换。
3.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：董亚明，刘坤选，林亚东，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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