大电阻测量装置制造方法及图纸

技术编号:2646035 阅读:204 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
提供一种不使用振动电路、升压电路、放大器等用低电压就可以测量大电阻的大电阻测量电路,其装备有连接被测物的一对测量端子T↓[1]、T↓[2]、测量电源E、指示器M和晶体管TR。该晶体管的基极通过端子T↓[1]、T↓[2]与电源E的一个极相连,而其发射极与电源E的另一极相连,集电极通过指示器M和测量电源E的一个极相连,当T↓[1]、T↓[2]间连接被测物时,基板、发射极间有电流流过,并根据该基极电流产生集电极电流,在指示器中显示被测物的电阻值。(*该技术在2004年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及装备有测量大电阻的大电阻测量电路的电路测试器。电路测试器一般是由图3所示的电路所组成的。对每个测量对象(交流电压、直流电压、直流电流、电阻)分别配置了接点2(交流电压的测量除外)和接点3,对每个测量量程配备了接点群4,当测量电压时,根据测量量程设置倍率器(电阻器),而测量电流、电阻时,可设置分流器(电阻器)。测量量程的选择是用量程切换开关(图中未示)来进行的,安装在该开关上的电刷1将该处的接点短路。根据电路测试器的种类,其主要内装有测量电阻时使用的电池E1(3V)和电池E2(9V)。此外还装备有,相应于所设定的测量量程显示被测物的测量结果的指示表M,和将指示表的指针调到零电阻用的零电阻调节器VR等。交流电压以及直流电压的最大量程范围是1000伏,直流电流的最大量程范围是250毫安,因此与之相关的电阻的最大量程是×10K。当测量的大电阻超过最大量程(×10K)时,在电路测试器中要附加振动电路和升压电路来提高测量电压,或者是以使用放大器提高电路测试器的指示器M的敏感度的方式来测量大电阻。然而在利用前者测量大电阻时,由于线路复杂而增加了费用,而且由于在被测物上施加了高电压,可能会对半导体以及集成电路之类的元件造成破坏。而对于后者,放大器需要电源,由于温度、电源电压等影响会造成放大器不稳定,从而使测量值产生离散,而且和前者同样因线路复杂也存在费用高的问题。为了解决上述的有关问题,本技术的目的是提供一种不使用前述的振动电路、升压电路,放大器而备有用低电压测量大的电阻的大电阻测量电路的电路测试器。本技术涉及的大电阻测量电路装备有连接被测物的一对测量端子、测量电源、指示器以及一个晶体管,该晶体管的基极通过上述一对测量端子和上述测定电源的一个极相连接,其发射极与该测定电源的另一个极相连接而其集电极则通过上述指示表与测量电源的一个极相连接,当上述一对测量端子连接被测物时,基极、发射极之间流动着基极电流,根据该基极电流,产生集电极电流,从而使被测物的电阻值在指示器中显示。在本技术中,当晶体管的基极和测量电源之间所设置的一对测量端子与被测物相连接时,晶体管的基极、发射极之间将流过与被测物的电阻值相对应的基极电流,该晶体管根据输入的基极电流使集电极电流增大,指示器根据该集电极电流显示测量端子上所连接的被测物的电阻值。由于本技术利用了晶体管的放大作用,因此即使测量电源的电压较低,也能对大电阻进行测量。附图说明图1是本技术大电阻测量电路的一个实施例的电路图;图2是装备有大电阻电路的电路测试器的一个实例的电路图;图3是已有的电路测试器的电路图。实施例图1所示的是本技术的大电阻测量电路的一个实施例的电路图。图中,T1、T2是连接具有大电阻RX的被测物的电阻测量端子,E是测量电源,例如是二个串联连接的1.5V电池。VR是零电阻调节器,RS是内装的标准电阻。TR是例如NPN型的晶体管,当基极电流Ib通过T1、T2上所连接的被测物的电阻RX以及内装的标准电阻RS,在基极和发射极之间流过时,晶体管中流过放大率基极电流Ib的β倍(直流电流放大率hFE)的集电极电流IC。M是根据集电极电流IC显示被测物电阻RX的指示器。此外,本电路中使用的NPN型晶体管,将测量电源E的极性反向连接,而且指示器M的极性也反向。当用这种电路测量被测物时,首先将电阻测量端子T1、T2短路,用零电阻调节器VR将指示器的指针调成与零Ω刻度相重合,然后,在电阻测量端子T1、T2上连接被测物。并由此使基极电流Ib流过晶体管TR上基极和发射极之间的被测物电阻RX及内装的标准电阻RS,晶体管TR中产生将输入基极电流Ib放大了β倍的集电极电流IC,并由指示器M显示被测物的电阻RX。该电路中集电极电流IC的线性根据晶体管的种类而不同,但就同一种类的晶体管而言,其测量误差在测量允许误差的范围内。而且如果被测物的电阻RX和内装的标准电阻RS的总和(RX+RS)在100KΩ-100MΩ之间,则集电极电流IC基本是直线,为了提高测量精度,最好可先使指示器M的刻度盘符合具有下列数据的刻度盘。相对于RX+RS的集电极电流IC值,测量电源E为3伏时测量电源E为5伏时RX+RS ICRX+RS IC100KΩ3.780mA100KΩ7.041mA500KΩ0.774500KΩ1.4341MΩ0.3891MΩ0.7205KΩ0.0795KΩ0.14510MΩ0.03910MΩ0.07350KΩ0.00850KΩ0.015100MΩ0.004100MΩ0.007当测量电压变动时,集电极电流IC也变动,这时可以调节与指示器M并联连接的零欧姆调节器VR。而且相对于2毫安范围的负荷变化(RX200KΩ-100KΩ)测量电源E的电压不变化。直流电流放大率hFE随周围温度而变化,但由于用零欧姆调节器VR可以进行调节。因此只要在测量中温度不急剧变化,就不成问题。图2是装有大电阻测量电路的电路测试器的一个实施例的电路图。此外,在表明图1和图2中相同或者相当的部分时使用了相同的符号并且不再对其进行说明。图中T11是测量×100K的量程时使用的大电阻测量端子、T12是共用端子、T13是测量被测物的电压和电流时或选择×1-×1K量程时所使用的测量端子。当选择量程×100进行驱动时,晶体管TR的基极与大电阻测量端子T11连接,发射极与接点11连接,集电极和零调节器VR1的输出相连接。测量电源E例如是由2节1.5伏的电池串联连接而成的,其正极经保险丝F与共用端子T12相连接的同时还与接点13a相连,其负极与接点12b相连接。为量程×100K所设置的接点14经上述零调节器VR1与零欧姆调节器VR相连接。零调节器VR1用于修正零欧姆调节器VR的有效调节范围。接点12a和测量端子T13相连接。10a、10b是装在量程切换开关(未图示)上的电刷,其中电刷10b仅在选择×100K量程时,将接点11、12b短路。此时电刷10a也将接点12a、13a、14变为短路。另外,该电刷10a也可以在×100K以外的量程设定中使用。下面对用装有大电阻测量电路的电路测试器测量大电阻被测物时的动作进行说明。首先,在用量程切换开关选择了量程×100K之后,在大电阻测量端子T11和共用端子T12上连接被测物。此时由于在量程切换开关的作用下电刷10a使12a、13a、14短路,同时电刷10b将接点11、12b短路。因此从测量电源E来的电流,顺序地流经保险丝F、共用端子T12,被测物、大电阻测量端子T11,然后再流经内装的标准电阻RS后,流向晶体管的基极一发射之间,而且来自该测量电源的电流作为集电极电流流过接点13a、14以及零调节器VR1,进入晶体管TR中。而且,与此同时该集电极电流通过接点13a、12a流向指示器M。该指示器根据所输入的集电极电流,通过指针显示被测物的电阻值。另外,图中所示的大电阻测量电路在电路测试器中是通用的。而且也还用于模拟多路测量器的电阻测量电路和低压绝缘电阻计中。根据上述的本技术,利用晶体管放大通过具有大电阻的被测物的电流,并将其显示在指示器中,可以使回路简单且价廉,由于不需要提高测量电压,因此就不会产生对被测物的破坏。而且,由于不需要放大器,从而可能获得稳定的测量显本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大电阻测量装置,其特征在于装置有连接被测物的一对测量端子,测量电源,指示器,和晶体管,其基极,经上述的一对测量端子与上述测量电源的一个极相连,发射极与测量电源的另一极相连,其集电极通过上述指示器与上述测量电源的一个极相连,当上述一对测量端子上连接被测物时,其基极、发射极间流过基极电流根据该基极电流产生集电极电流,并在上述指示器中显示被测物的电阻值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:马场信治
申请(专利权)人:三和特斯美克斯株式会社
类型:实用新型
国别省市:JP[日本]

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