一种FLASH芯片的测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，测试方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子服务器将测试机台反馈的执行结果转发至主服务器。本发明专利技术实施例通过一个PC端的服务器来管理多个生产设备，同时每个生产设备也可以根据需要自己配置参数，这样NAND flash产品的生产工厂可根据需要，选择集中或单独管理设备的生产，通过软件实现NANDflash的生产和检测，采用低功耗的处理器芯片+DRAM+EMMC实现，多个单位整合成一台设备，降低耗电和发热。

【技术实现步骤摘要】
一种FLASH芯片的测试系统及测试方法
本专利技术涉及半导体器件
，尤其涉及一种FLASH芯片的测试系统及测试方法。
技术介绍
NANDFlash存储芯片作为半导体元器件中不可或缺的组成部分，随着大数据、云计算、物联网等迅猛发展，在内存、消费电子、智能终端等领域均有广泛运用。然而存储器芯片在产业应用中必须是和存储控制芯片配合才能够组成为最终的产品。不论国内外厂商，则在生产NANDflash模组测试时大都基于以下2种方式：第一种，PC上安装不同主控厂家的软件，再通过USB连接上其主控厂家的测试架，先对NANDflash颗粒(TSOP/BGA/LGA等封装片的形式)进行扫描量产，然后将测试好的NANDflash颗粒通过焊接到PCB上。第二种，先将NANDflash(Dies形式)贴到PCB或者封装成UDP形式，通过USBHUB装置连接到PC，再打开PC上对应主控厂家的软件进行量产。通过以上两种量产成功后，将产品再次插入USBHUB装置，打开检测软件对产品进行测试，筛选出不合格的。目前这样的生产方式都是基于PC系本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；/n所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；/n所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；/n所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；/n所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；
所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；
所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；
所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；
所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试。


2.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括显示设备，所述显示设备与所述主服务器连接；
所述显示设备用于所述显示生产信息。


3.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器包括UDP通报单元、条码管理单元、配置管理单元、子服务器管理单元、结果记录单元；
所述UDP通报单元用于在局域网内通报UDP信息；
所述条码管理单元用于为测试机台的生产料盘进行编号并管理
所述配置管理单元用于对测试机台的生产参数进行配置，并将配置更新到指定的子服务器上；
所述子服务器管理单元用于对子服务器的命名、配置以及生产状态进行管理；
所述结果记录单元，用于对测试子系统的运行结果进行记录。


4.根据权利要求3所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括文件传输单元，
所述文件传输单元用于更新配置以及查看子服务器中的测试子系统生成的日志文件。


5.根据权利要求4所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括显示管理单元，
所述显示管理单元用于显示子服务器下对应的子系统的生产信息。


6.根据权利要求2所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述子服务器包括结果输出单元、参数配置单元、报警单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，胡来胜，张弛，
申请(专利权)人：深圳三地一芯电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：广东;44