一种FLASH芯片的测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，测试方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子服务器将测试机台反馈的执行结果转发至主服务器。本发明专利技术实施例通过一个PC端的服务器来管理多个生产设备，同时每个生产设备也可以根据需要自己配置参数，这样NAND flash产品的生产工厂可根据需要，选择集中或单独管理设备的生产，通过软件实现NANDflash的生产和检测，采用低功耗的处理器芯片+DRAM+EMMC实现，多个单位整合成一台设备，降低耗电和发热。

【技术实现步骤摘要】
一种FLASH芯片的测试系统及测试方法
本专利技术涉及半导体器件
，尤其涉及一种FLASH芯片的测试系统及测试方法。
技术介绍
NANDFlash存储芯片作为半导体元器件中不可或缺的组成部分，随着大数据、云计算、物联网等迅猛发展，在内存、消费电子、智能终端等领域均有广泛运用。然而存储器芯片在产业应用中必须是和存储控制芯片配合才能够组成为最终的产品。不论国内外厂商，则在生产NANDflash模组测试时大都基于以下2种方式：第一种，PC上安装不同主控厂家的软件，再通过USB连接上其主控厂家的测试架，先对NANDflash颗粒(TSOP/BGA/LGA等封装片的形式)进行扫描量产，然后将测试好的NANDflash颗粒通过焊接到PCB上。第二种，先将NANDflash(Dies形式)贴到PCB或者封装成UDP形式，通过USBHUB装置连接到PC，再打开PC上对应主控厂家的软件进行量产。通过以上两种量产成功后，将产品再次插入USBHUB装置，打开检测软件对产品进行测试，筛选出不合格的。目前这样的生产方式都是基于PC系统，而PC上USB的总线带宽已经固定，每次接入的USB设备越多，每个产品的传输速度就会降低，导致每台PC生产和检测数量不能太多。这样工厂就会大量增加PC、USBHUB装置及测试架来提高产能，同样随着PC的增加，工厂的耗电以及大量发热导致的成本增加、工作环境恶劣、社会资源利用率低成为目前需要急迫解决的问题。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
r>鉴于上述现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，旨在解决现有技术中的Flash芯片测试成本大，检测速度慢的问题。本专利技术的技术方案如下：一种FLASH芯片的测试系统，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试。可选地，所述测试系统还包括显示设备，所述显示设备与所述主服务器连接；所述显示设备用于所述显示生产信息。可选地，所述主服务器包括UDP通报单元、条码管理单元、配置管理单元、子服务器管理单元、结果记录单元；所述UDP通报单元用于在局域网内通报UDP信息；所述条码管理单元用于为测试机台的生产料盘进行编号并管理所述配置管理单元用于对测试机台的生产参数进行配置，并将配置更新到指定的子服务器上；所述子服务器管理单元用于对子服务器的命名、配置以及生产状态进行管理；所述结果记录单元，用于对测试子系统的运行结果进行记录。可选地，所述主服务器还包括文件传输单元，所述文件传输单元用于更新配置以及查看子服务器中的测试子系统生成的日志文件。可选地，所述主服务器还包括显示管理单元，所述显示管理单元用于显示子服务器下对应的子系统的生产信息。可选地，所述子服务器包括结果输出单元、参数配置单元、报警单元、日志管理单元、端口锁定单元和数据复制单元；所述输出单元用于将子系统的生产信息输出到显示设备；所述参数配置单元用于对子服务器的参数进行配置；所述报警单元用于对料盘放入时的状态信息进行提醒；所述日志管理单元用于对测试子系统的日志信息进行记录；所述端口锁定单元用于对测试子系统进行编号，并使得测试子系统的编号与料盘编号一致；所述数据复制单元，用于将子服务器中配置好的目标数据复制到所述测试子系统中对应的产品。可选地，所述测试子系统包括通信单元、数据转发单元、测试单元、量产工具；所述通信单元用于与待测试产品进行通信，以及与子服务器进行通信；所述数据转发单元用于根据协议查看数据不是当前测试子系统使用，则将数据转发至下一级测试子系统；所述测试单元用于对待测试产品的性能进行测试；所述量产工具用于对待测试产品写入相应的数据。本专利技术的另一实施例提供了一种基于上述任一项FLASH芯片的测试系统的测试方法，所述方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子服务器将测试机台反馈的执行结果转发至主服务器。本专利技术的另一实施例还提供了一种非易失性计算机可读存储介质，所述非易失性计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令被一个或多个处理器执行时，可使得所述一个或多个处理器执行上述的基于FLASH芯片的测试系统的测试方法。本专利技术的另一种实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非易失性计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被处理器执行时，使所述处理器执行上述的基于FLASH芯片的测试系统的测试方法。有益效果：本专利技术公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，相比于现有技术，本专利技术实施例通过一个PC端的服务器来管理多个生产设备，同时每个生产设备也可以根据需要自己配置参数，这样NANDflash产品的生产工厂可根据需要，选择集中或单独管理设备的生产，通过软件实现NANDflash的生产和检测，采用低功耗的处理器芯片+DRAM+EMMC实现，多个单位整合成一台设备，降低耗电和发热。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：图1为本专利技术一种基于FLASH芯片的测试系统的较佳实施例的硬件结构图；图2为本专利技术一种基于FLASH芯片的测试系统的具体实施例的架构示意图；图3为本专利技术一种基于FLASH芯片的测试系统的测试方法的较佳实施例的流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。以下结合附图对本专利技术实施例进行详细的说明。本专利技术实施例提供了一种基于FLASH芯片的测试系统。请参阅图1，图1为本专利技术一种FLASH芯片的测试系统的较佳实施例的结构图。如图1所示，测试系统包括主服务器100、交换机200、子服务器300、测试机台400，交换机200分别与主服务器100、子服务器300连接，测试机台400与子服务器300连接；主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；子本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；/n所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；/n所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；/n所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；/n所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括主服务器、交换机、子服务器、测试机台，所述交换机分别与所述主服务器、所述子服务器连接，所述测试机台与所述子服务器连接；
所述主服务器用于对测试机台的数据进行远程配置，以及对生产信息进行处理；
所述交换机用于将子服务器与主服务器连接到同一网络；
所述子服务器用于对测试机台进行管理，将主服务器下发的配置信号转发至测试机台，并将测试机台反馈的反馈信号转发至主服务器；
所述测试机台包括若干个测试子系统，所述测试子系统用于对FLASH芯片进行测试。


2.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括显示设备，所述显示设备与所述主服务器连接；
所述显示设备用于所述显示生产信息。


3.根据权利要求1所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器包括UDP通报单元、条码管理单元、配置管理单元、子服务器管理单元、结果记录单元；
所述UDP通报单元用于在局域网内通报UDP信息；
所述条码管理单元用于为测试机台的生产料盘进行编号并管理
所述配置管理单元用于对测试机台的生产参数进行配置，并将配置更新到指定的子服务器上；
所述子服务器管理单元用于对子服务器的命名、配置以及生产状态进行管理；
所述结果记录单元，用于对测试子系统的运行结果进行记录。


4.根据权利要求3所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括文件传输单元，
所述文件传输单元用于更新配置以及查看子服务器中的测试子系统生成的日志文件。


5.根据权利要求4所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述主服务器还包括显示管理单元，
所述显示管理单元用于显示子服务器下对应的子系统的生产信息。


6.根据权利要求2所述的FLASH芯片的测试系统，其特征在于，所述子服务器包括结果输出单元、参数配置单元、报警单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：张辉，胡来胜，张弛，
申请(专利权)人：深圳三地一芯电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：广东;44