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本发明公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，测试方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子...
该专利属于深圳三地一芯电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳三地一芯电子有限责任公司授权不得商用。

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