高低温介电性能和电阻率测量用电极装置制造方法及图纸

本发明专利技术是一种物理参数测量仪器的改进．本装置能与多种电桥或静电计配合，在－１８０℃到＋２５０℃温度区内，在３０Ｈｚ到１００ＫＨｚ的频率范围内和可控的气氛条件下进行介电常数、介电损耗和高电阻率的精密测量．它能有效地防止试样室温度变化和电磁感应对测量的干扰，制作又很方便．主要技术特征是采用金属结构的电极线引出器和密闭式的试样室套结构．这种引出器由紧接试样室（１）的热阻段（２）和装有电极装置出线端（４）的散热器形端块（３）构成．（*该技术在1995年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于一种物理参数测量仪器的改进。电介质，尤其是高分子电介质材料的广泛应用，迫切需要能够在不同温度(如－180℃至＋250℃)、频率和气氛条件下测定其性能的仪器设备。这种设备一般包括两个部份测定一些基本物理量的仪器，如精密电桥、静电计或微电流计等，和一个完善的电极装置。后者的功能是保证试样能根据需要处于各种不同的条件下进行测量，而在试样电极和测量仪器的输入端之间不会引进附加的讯号和干扰。为了减少试样室温度变化对测量的干扰，已有的办法是将电极设置在很大的加热箱中〔1，2〕，或用石棉层隔热〔3〕。这种办法使设备体积大、变温慢，耗能大，不易控制试样室的气氛。另一种办法是在电极和出线端之间加入大块陶瓷烧结件来消除试样室温度变化的影响，这样使材料选择和加工工艺复杂化，对生产带来不便。本专利技术的目的是通过改进结构设计，采用新的方式抑制由于试样室的温度变化对测量带来的影响，以得到结构小巧、加工容易、操作方便、适于高指标测量的(温度范围宽，环境气氛可控，高精度，弱讯号)电极装置。本专利技术采用金属的电极线引出器来达到避免试样室温度变化对测量带来的干扰。所用金属材料可以是常见的金属材料，如碳钢本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高低温介电性能和电阻率测量用的电极装置，具有密闭式的试样套筒结构（图１），其特征在于采用了金属的电极线引出器，该引出器是由紧接试样室（１）的传热较慢的细管状热阻段（２）和装有电极装置出线端（４）的具有较大热容量及良好传热性的散热器形端块（３）构成。

【技术特征摘要】
1.一种高低温介电性能和电阻率测量用的电极装置，具有密闭式的试样套筒结构(图1)，其特征在于采用了金属的电极线引出器，该引出器是由紧接试样室(1)的传热较慢的细管状热阻段(2)和装有电极装置出线端(4)的具有较大热容量及良好传热性的散热器形端块(3)构成。2.按权利要求1的电极装置，其特征是电极线引出器的金属材料可以是碳钢或不锈钢或铝或黄铜或德银合金或其它常见的金属材料。3....

【专利技术属性】
技术研发人员：刘尚琪，张贤，徐懋，
申请(专利权)人：中国科学院化学研究所，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]