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本发明是一种物理参数测量仪器的改进．本装置能与多种电桥或静电计配合，在－１８０℃到＋２５０℃温度区内，在３０Ｈｚ到１００ＫＨｚ的频率范围内和可控的气氛条件下进行介电常数、介电损耗和高电阻率的精密测量．它能有效地防止试样室温度变化和电磁感应对...
该专利属于中国科学院化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院化学研究所授权不得商用。

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