变温霍尔实验仪制造技术

技术编号:2642062 阅读:163 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
变温霍尔实验仪,属教学科研仪器类。现有的霍尔效应实验仪只能测室温情况下的半导体霍尔系数、电导率、迁移率、载流子浓度等参数。本实用新型专利技术的实验仪,采用真空装置和冷却装及恒温器,在77°K—400°K温度区间,对半导体材料的上述参数的测试,通过加热器、温度感应器及微机控制,能贮存并自动打印出logR与*F1/T@,logσ与*F1/T@的曲线图来。(*该技术在1997年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
属于教学科研仪器类。霍尔试验仪是学校测定、表演实验的重要教学仪器,也是工厂科研单位试验、测定不可缺少的工具。主要是对半导体材料的霍尔系数、迁移率、载流子浓度等参数测定。现有的霍尔效应实验仪,只能测定室温情况下半导体材料的主要参数。而不能同时测定在不同温度情况下的主要参数。本技术的变温霍尔实验仪,可以不受室温的限制。在绝对温度77K-400K的范围内。随时对半导体材料各种参数的测试,还可以对金属和非金属材料的电学和光学性能的测试。见图1、变温霍尔实验仪,主要由微机1、打印机2、恒温器3、样品和电磁铁恒流源4、真空子系统5、冷却装置6、磁场7等部分组成,在恒温器内有加热器和温度感温器。恒温器(即杜瓦瓶)具有保温作用,冷却装置用液态氮对其冷却,可使恒温器内的绝对温度最低降到77K。恒温器中的温度感温器与微机程序控制相连。温度每间隔5℃、微机使受其控制的磁场磁极极性改变一次、被测样品的电流方向改变一次。这样,于同一温度,在不同电流方向、不同磁极方向的情况下,对样品分别进行四次测试。然后取四次测试值的代数和的平均值。在测试过程中,微机、打印机、将测得的数据贮存並打印下来。之后微机又使受其控制的加热元件加热,使恒温器内的温度再升高5℃,又重复上述的测试。这样就能获得样品从绝对温度77K-400K,再间隔5℃被测试的结果,並通过微机数据处理贮存和打印出图表来,即打印出tgR与 1/(T) 和tgδ与 1/(T) 的曲线图,在间隔隔5℃的曲线图相应各点打印出测试的数据。

【技术保护点】
由磁场等构成的变温霍尔实验仪。其特征是:a、有一个恒温器。恒温器内有与微机相连接的加热器、温度感应器。b、有与恒温器相连接的真空装置和冷却装置。c、有一个受微机控制的打印机。

【技术特征摘要】
由磁场等构成的变温霍尔实验仪。其特征是a、有一个恒温器。恒温器内有与微机相连接的加热器...

【专利技术属性】
技术研发人员:于耀川徐寿定范东华胡长有周仁楷李瑞云李平江
申请(专利权)人:东北师范大学科教仪器厂中国科学院半导体研究所
类型:实用新型
国别省市:22[中国|吉林]

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