本实用新型专利技术是有关一种测试机构，包含有固定单元、位于固定单元下方的活动单元及测试座，固定单元具有一容置空间及设在容置空间内的缓冲元件，该活动单元具有至少一沿一第一方向活动且一端轴设在容置空间内的嵌引件，该测试座位于活动单元下方且与嵌引件相连结，具有一顶面、一相反于顶面的底面，及至少一设于底面的嵌置孔，用以吸附一测试治具。本实用新型专利技术利用容置空间内缓冲元件，加上测试座顶面与嵌引件间形成缓冲室，提供了测试机构下移压制待测ＩＣ时轴向缓冲位移行程，能防止因施压力道过大造成ＩＣ晶片破损；另还藉由滑动单元搭配连结单元弧形孔，使测试座适时产生径向偏摆，能平稳正确与待测ＩＣ产生对位效果，实现单一测试单元同时测试多组ＩＣ晶片，而可提升测试效率。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试机构，特别是涉及一种用以检测IC晶片，能防 止测试机构園施压力道过大造成IC晶片破损，且能平稳且正确地与待测IC 产生对位效果，实现单一测试单元能同时测试多组IC晶片作用而可提升测试效率的测试才几构。雄甚娃#为了检知IC晶片制成之后的良窳与否，并对测试后的晶片加以分类处 理，目前业者会利用一 IC测试分类机来进行测试分类，以往的IC测试分类 机主要是先将待测IC移至一待试区内，再利用 一具有真空吸附能力的测试 臂(test hand),将一测试单元(测试头)吸附并压制在该待测IC上，使待 测IC的接脚能与该测试单元的插座产生电性连结，进而侦知IC晶片的相 关功能是否正常无误，而测试完成之后的IC晶片会经由一控制单元的操控 下，依优良品、不良品的分类，利用该测试臂或一输送机构来移动，并储放 在对应的储置区内，以备下一制程的进行。但是，由于该测试单元是以触压IC的方式才能达到检测效果，而该测 试单元的压制力道又完全取决于该测试臂的下移行程，所以，在该测试单 元与待测IC接触位置无緩冲机制的情形下，若该测试臂的位移行程稍有误 差，往往容易使得测试单元的压制力道过大而使晶片破损，所以操作人员在 使用前必须非常小心的调校测试臂的位移行程，且不同类型或批次的IC晶 片便必须重新调校一次，也造成使用上的困扰。此外，以往现有的IC测试分类机构在才喿作的效率上相当緩慢，主要原因 在于该测试单元仅能对单一个IC晶片进行检测，如果欲增加其测试效率，只 能藉由增加测试单元的插座数量来因应，但随着IC晶片微型化的发展趋势 下，该测试单元的插座必须同时精准地与多数个IC对位，否则除了可能无 法达到正确对位来进行检测作业之外，也会因为两者间的位置偏移，而造 成压制后的IC晶片破损。由此可见，上迷现有的测试机构在结构与使用上，显然仍存在有不便 与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫 不费尽心思来谋求解决之道，但是长久以来一直未见适用的设计被发展完 成，而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急 欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的测试机构，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。有鉴于上述现有的测试机构存在的缺陷，本设计人基于从事此类产品 设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研 究创新，以期创设一种新型的测试机构，能够改进一般现有的测试机构，使 其更具有实用性。经过不断研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终 于创设出确具实用价值的本技术。发稱内客本技术的目的在于，克服现有的测试机构存在的缺陷，而提供一种 新型的测试机构，所要解决的技术问题是使其可以解决以往测试单元与待测IC之间无緩冲机制，造成晶片受压制后容易破损，以及两者无法精准对位、位移行程调校不便的缺点，从而更加适于实用。本技术的目的及解决其技术问题是采用以下的技术方案来实现 的。依据本技术提出的一种测试机构，可接受一机具的一控制单元的驱动而将待测物移动至一测试区进行测试分类，该测试机构包含 一 固定 单元，连接在该控制单元上，具有一容置空间及一设置在该容置空间内的緩 冲元件； 一活动单元，具有至少一可沿一第一方向活动且一端轴设在该容 置空间内的嵌引件；以及一测试座，位于该活动单元下方且与该嵌引件连 结，具有一顶面、 一相反于该顶面的底面，以及至少一个设置于该底面的嵌 置孔，用以吸附一测试治具。本技术的目的及解决其技术问题还可以可采用以下的技术措施来 进一步实现。前述的测试才几构，其中所述的緩冲元件是以弹性材料制成薄片状。 前述的测试才几构，其中所述的固定单元更具有一连通该容置空间的进气孔，可以供外界加压流体泵送入该容置空间，促使该缓冲元件可保持表面张力。前述的测试机构，其中所述的固定单元是由一上壳件及一下壳件对接 而成，该上、下壳件对合后的内壁面是构成该封闭状的容置空间，且使得该 緩冲元件夹设在该上壳体、下壳件之间。前述的测试枳i构，其中所迷的固定单元更具有复数锁设元件，该等锁设 元件是穿置过该下壳件及该緩冲元件后，再锁设入该上壳件。前述的测试机构，其中所述的活动单元更具有一轴设在容置空间内且与嵌引件固接的活动座，且该活动座是对应于该緩沖元件。前迷的测试机构，其中所述的固定单元更具有一装设于该容置空间内的导柱，该活动座对应该导柱开设有一导孔。前述的测试才凡构，其中所述的活动单元更具有至少一 自该活动座底部 朝下延伸且凸露出该容置空间外的抵接台。前述的测试机构，其中所述的活动单元的嵌引件包括有反向设置的一 大径段及一小径段。前述的测试机构，其更包含有一设置在该活动羊元该测试座之间的连 结单元，该连结单元具有一顶面、 一与该顶面反向的底面、至少一贯通该 顶、底面的滑槽，使该嵌引件的大径段可伸设在该滑槽内且无脱出之虞。前述的测试4几构，其中所述的连结单元更具有至少一装设在该滑槽内 且套穿该嵌引件的滑套。前述的测试机构，其中所述的滑套开孔的孔径是小于该嵌引件大径段 的外径。前述的测试机构，其中所述的连结单元更具有复数个沿一第二方向开 设的弧形孔，及复数个穿置过该等弧形孔且锁设入该测试座内的螺栓，使该 测试座能沿该弧形孔的长方向且相对该连结单元产生径向旋摆。前述的测试机构，其更包含有复数个装设在该测试座一顶面与该连结 单元底面之间的滑动单元，且使得该测试座与该连结单元之间形成有一间 隙。前述的测试机构，其中所述的滑动单元为滚珠轴承。前述的测试机构，其中所述的测试座更具有复数个分别对应该等嵌置 孔且可相连通的导气孔。前述的测试机构，其更包含有一固接在该控制单元与该固定单元之间 的基座。前述的测试机构，其中所述的基座具有二分别位于短侧边的挂接部，用 以挂设于该控制单元的下方。本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。经由以上可知，为了达到上述目的，本技术提出一种能提供测试单元在压制待测ic 时的緩沖位移行程，并且两者可达到精准对位的测试机构。该测试机构可 接受 一 才几具的 一 控制单元的驱动而将待测物移动至 一 测试区进行测试分 类，且该测试机构包含有一固定单元、 一活动单元及一测试座。该固定单元，连接在该控制单元上，具有一容置空间及一设置在该容置 空间内的緩冲元件。该活动单元，具有一对应该緩冲元件的活动座，以及至少一固接该活动座且可沿一第一方向活动的嵌引件。该测试座，位于该活动单元下方且与该嵌引件相连结，具有一顶面、一 相反于该顶面的底面，以及至少一设置于该底面的嵌置孔，用以吸附一测试 治具。此外，该测试:机构更包含有位于一个该活动单元与该测试座之间的连 结单元，该连结单元具有一顶面、 一与该顶面反向的底面、至少一贯通该 顶、底面且供该嵌引件伸设其内的滑槽，使该嵌引件的底端可伸设在该滑 槽内且无脱出之虞，且该连结单元的底面与该嵌引件的底端之间，形成设 有一緩冲室。借由上述技术方案，本技术测试机构至少具有下列优点1、 应用本技术测试机构利用容置空间内的緩冲元件，加上测试座 顶面与嵌引件之间所形成的緩冲室，提供了测试机构在下移压制待测IC时 的轴向緩冲位移行程，能够防止测试机构因施压力道过大，造成工C晶片的 破本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试机构，可接受一机具的一控制单元的驱动而将待测物移动至一测试区进行测试分类，其特征在于该测试机构包含：一固定单元，连接在该控制单元上，具有一容置空间及一设置在该容置空间内的缓冲元件；一活动单元，具有至少一可沿一第一方向活动且一端轴设在该容置空间内的嵌引件；以及一测试座，位于该活动单元下方且与该嵌引件连结，具有一顶面、一相反于该顶面的底面，以及至少一个设置于该底面的嵌置孔，用以吸附一测试治具。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：麦敬林，林建铭，刘素妤，
申请(专利权)人：寰邦科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]
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