测试模块制造技术

本实用新型专利技术提供一种测试模块，其可用于测试具有固定盖的电子装置。测试模块包括第一转接板，其可容置于固定盖内，第一转接板的其中一平面包括多个第一接触部，另一平面包括多个第二接触部，第一转接板内包括多个第一导线，各个多个第二接触部通过各个多个第一导线与各个多个第一接触部电连接，其中多个第二接触部之间距小于多个第一接触部之间距。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试模块，特别是涉及一种用于测试电子装置的 测试模块。
技术介绍
在现有技术中，中央处理器(CPU)是以其凸出的针脚插设固定于电脑的处理器插槽的电接点中。当欲测试处理器插槽的电接点的焊点问题(如空焊、 短路)时，是先以测试用的转接板置于处理器插槽中，其中转接板的二平面 都设有接触部，其中一平面接触处理器插槽的电接点，另一平面的上部再 连接具有与处理器插槽同宽度的测试治具，测试治具的多个探针便可直接接触到转接板上的接触部作线路的连接，接着即可进行后续的ICT/ATE测 试。由于此种形式的处理器插槽是通过水平方向力量将处理器的针脚固定 于处理器插槽的电接点处。然而，此种形式的处理器插槽因其结构的关系， 于运作时易产生杂讯，造成使用上的不便。为了改善上述处理器插槽结构所产生的缺点，因而产生另一形式的处 理器容置槽结构。请参考图1,为现有技术的电子装置的处理器容置槽的示 意图。处理器容置槽50包括固定盖90与电接点80，其中电接点80呈凸出 状，处理器的接触点也呈凸出状。通过固定盖90提供一垂直方向的紧固力 量施加于处理器，以便将处理器固定于处理器容置槽50。但由于固定盖90本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试模块，可用于测试具有一固定盖的一电子装置，其特征在于，该测试模块包括：一第一转接板，其可容置于该固定盖内，该第一转接板的其中一平面包括多个第一接触部，另一平面包括多个第二接触部，该第一转接板内包括多个第一导线，各个该多个第二接触部通过各个该多个第一导线与各个该多个第一接触部电连接，其中该多个第二接触部之间距小于该多个第一接触部的间距。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林保炜，叶国文，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[]