低电阻大电流测量仪制造技术

一种低电阻大电流测量仪，主要由恒流源、测量控制电路、运算放大电路、接口电路、４＿＿位数显装置和壳体组成。是用于测量允许通过１安培以上电流的、电阻值在２０微欧至２０欧姆的被测导体的直流电阻值的仪器。对虚接、交流磁场、分布电容和分布电感等因素的干扰，具有较强的抑制能力，测试电流稳定快，能真实反映出被测导体的直流电阻值。适于测量中小型开关和继电器的接触点以及各种焊接接口是否虚接或电阻阻值。（*该技术在2001年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种由接口电路、＊位数显装置和壳体等组成的低电阻大电流测量仪，其特征在于由恒流源、测量控制电路和运算放大电路组成，所述的低电阻大电流测量仪在被测导体上通入恒定的１安培以上的大电流。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱诚忠，
申请(专利权)人：朱诚忠，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]