【技术实现步骤摘要】
一种专用测量仪器，特别是用于检测小型熔断器电参数分断能力的测量仪。目前，国内检测熔断器分断能力参数是采用低压交流电源，有的采用直流100V电源。这两种检测手段均不符合国际规范标准。国外文献，对采用可控硅电子开关做分断能力测试仪未曾有过报道，苏联专利502416是采用机械凸轮装置。本技术的目的是改变传统的用直流检测的手段，提供一种符合国际标准的检测熔断器分断能力的仪器。本技术的方案是采用可控硅做电子开关，采用可靠的触发电路，使其在正向30°导通，本技术的误差为±1°，熔断器分断后保持30秒。如果使每个正半波都在30°导通，或者正负半波都在30°导通是容易办到的，本技术的关键是在正向30°导通后，输出连续的不间断的正弦波。附图说明图1为本技术的组成框图。其中①是主回路部分；②是保证电路系统；③是触发记忆电路部分；④是延时控制部分；⑤表示虚线框内②、③、④共同组成控制电路部分。图2是主回路电路原理。输入端接250V50Hz交流电源，R1是限流电阻，BT1是双向可控硅，在这里做电子开关，⑤是BT1的触发控制电路。a、b是熔断器测试端。R2与a、b测试端并联，串联在B...
【技术保护点】
一种熔断器分断能力测量仪，其特征是：Ａ、采用可控硅ＢＴ↓〔１〕做电子开关，电阻Ｒ↓〔２〕与ａ、ｂ测试端并联，串联在ＢＴ↓〔１〕主回路中，Ｂ、由光耦合器Ｎ↓〔１〕、双单稳集成电路ＣＤ↓〔１〕、继电器Ｊ↓〔１〕组成保证系统。Ｎ↓〔１〕与 Ｋ↓〔１〕、Ｒ↓〔３〕串联，通过Ｒ↓〔１〕接到测试电源两端，即Ａ、Ｃ端，Ｃ、由可控硅ＢＴ↓〔２〕组成触发电路，ＢＴ↓〔２〕与Ｊ↓〔１〕、Ｄ↓〔３〕、Ｒ↓〔０〕、Ｎ↓〔２〕串联，通过Ｒ↓〔１〕接到Ａ、Ｃ端。由可控硅ＢＴ↓〔３〕和继电器Ｊ↓ 〔２〕串联组成记忆电路。由可控硅ＢＴ↓〔４〕和可控硅ＢＴ↓〔５〕复合组成推动电路，控制主...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘玉胜，
申请(专利权)人：辽宁丹东市无线电十八厂，
类型：实用新型
国别省市：21[中国|辽宁]
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