磁各向同性金属片磁性直流测量传感器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量各向同性金属片的磁性用直流测量传感器。包括磁化线圈（１）、磁化线圈接柱（２）和铁芯体（３）。本传感器为半方形或半圆弧形，在每２片铁芯片（４）之间固定有非磁性材料层（５），由铁芯片（４）及非磁性材料层（５）组成的铁芯体（３）两端接近末端处连接有挡板（６），铁芯体（３）外包装有绝缘层（７），磁化线圈（１）绕在绝缘层（７）外；磁化线圈接柱（２）固定在挡板（６）上或呈自由状态；伸出挡板（６）外的铁芯体（３）的每二个铁芯片（４）之间有间隙。与现有技术相比，主要特点：采用外衔接式装样，测量中操作尤为方便；测量重复性好、可比性强、待测试样制作简单、时间短；该测量传感器能重复使用。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及磁性测量装置，更属于测量各向同性金属片的磁性用直流测量传感器。
技术介绍
近年来随着国民经济的发展，金属软磁材料的需求量大幅度增加，快速、方便、准确的 获取这类金属软磁材料磁性参数对生产和研究具有着越来越重要的意义。目甜，金属薄带其 磁性能常用测量方法有GB 3657-83规定的软磁合金直流磁性能测量方法和GB 3656-83规 定的电工用纯铁磁性能测量方法。以上两种方法均采用环形试样，测试方法及步骤如下所示:表1环形样品测试方法步骤<table><row><column>项目 </column><column>试样机械加工</column><column>加工费 </column><column>绕线时间 </column><column>材料费 </column><column>检验费</column></row><row><column>环样方法 </column><column>车削、线切割、 冲压</column><column>50元/个</column><column>2 3小时/ 个 </column><column>5 10元/个 </column><column>500元/个</column></row><table>GB 3657-83软磁合金直流磁性能测量方法规定了由软磁合金所制备的环形试样的基本 磁化曲线和磁滞回线上的各项磁性参数的测量方法。其对环形试样的要求为对厚度不小于 0.15mm的带材采用环形试样，其内径为32mm，外径为10mm，叠加厚度为5-7毫米；对厚 度小于0.15mm的带材，沿轧制方向取宽10mm的条，巻绕成内直径为25mm，外直径为32mm 的环形试样；制备好后，首先进行热处理，然后通过人工在试样上均匀的绕上测量绕组和磁 化绕组。综上所述，其环形样品磁性测试方法存在如下不足1) 环形试样制备成本高需投入剪切机、冲床等设备及相应的人工费用；2) 环形试样制备难度大试样的制备需要通过剪切、冲片，人工绕线，测量几个过程， 耗时长，人力投入大；3) 试样形态各异，测量结果可比性差；4) 逐个绕制线圈其绕制材料不能重复利用，绕制材料消耗大；5)测量单元逐个绕制，两个绕组难免有短路现象发生，此时必须重新制作测量单元(据 统计由于线圈短路的重新绕制率占20% 30%)。正是由于上述的种种原因，环形样品磁性检测未能在工业检测中大规模应用。
技术实现思路
本技术解决目前在各向同性金属片的磁性采用的环形样品测试方法所存在的不足， 提供一种采用外衔接式装样、固定的磁化和测量传感器、测量重复性好、可比性强，制作简 单，适合测量各种规格的各向同性金属片的磁性，能重复使用，操作方便的磁各向同性金属 片磁性直流测量传感器。解决上述问题的技术措施磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，包括磁化线圈、磁化线圈接柱和铁芯体。为解 决上述问题，本技术作出如下改进本传感器为半方形或半圆弧形，在每2片铁芯片之 间固定有非磁性材料层，由铁芯片及非磁性材料层组成的铁芯体两端接近末端处连接有挡板， 铁芯体外包装有绝缘层，磁化线圈绕在绝缘层外；磁化线圈接柱固定在挡板上或呈自由状态； 伸出挡板外的铁芯体的每二个铁芯片之间有间隙。其在于伸出挡板的每二片铁芯片之间的间隙0. 15mm。其在于挡板外的铁芯体的间隙为二个及二个的偶数倍。本技术与现有技术相比，其特点在于采用外衔接式装样，测量中躁作尤其方便；能 够测量软磁金属薄片的多种直流磁性能(磁化曲线、磁滞迥线、剩磁Br、矫顽力Hc)，测 量精度和重复性符合GB 3657-83的要求及快速；可与多种型号测量设备配套进行测试；能满 足工业大生产中电工钢片的大范围测量要求，同时由于其测量重复性好、可比性强，使它在 磁性测量方面的发展前景极其的广阔；对于待测试样来讲制作简单、制样时间短；与待测试 样一体，形成磁化测量单元；在满足测量要求的前提下，对测量试样尺寸规格要求相对较宽 松，使成本可大幅降低。该测量传感器能重复使用，样式设计新颖、造价低廉、制作工艺简 单。附图说明图1为半方形铁芯磁的各向同性金属片磁性直流测量传感器的结构示意图图2为图1中A—A剖视图图3为铁芯片为半圆弧形的形状示意图具体实施方式以下结合附图作进一步详述磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，包括磁化线圈l、磁化线圈接柱2和铁芯体3。 将铁芯片4制作成形状为半方形或半圆弧形，在每2片铁芯片4之间其中一片铁芯片4上粘 结厚度>0. 15mm的塑料等非磁性材料层5，将铁芯片4及塑料等非磁性材料层5组成铁芯体3， 其间隙个数为六个。挡板6采用套装并卡紧在铁芯体3两端接近末端处，挡板6与铁芯体3 末端之间为放置待测金属片处。在铁芯体3外包装有绝缘层7，磁化线圈1绕在绝缘层7夕h 伸出挡板6外的铁芯体3的每二个铁芯片4之间的间隙0. 15。在对磁各向同性金属片进行测量时，将每片要测量的金属片放置于挡板6与铁芯体3末 端之间的0.15謹的间隙内，将测量线圈绕在要测量的金属片中部，其匝数不少于3匝。将磁 化线圈接头2和测量线圈的接头分别连接于测量仪上进行测量即可。权利要求1、磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，包括磁化线圈(1)、磁化线圈接柱(2)和铁芯体(3)，其特征在于本传感器为半方形或半圆弧形，在每2片铁芯片(4)之间固定有非磁性材料层(5)，由铁芯片(4)及非磁性材料层(5)组成的铁芯体(3)两端接近末端处连接有挡板(6)，铁芯体(3)外包装有绝缘层(7)，磁化线圈(1)绕在绝缘层(7)外；磁化线圈接柱(2)固定在挡板(6)上或呈自由状态；伸出挡板(6)外的铁芯体(3)的每二个铁芯片(4)之间有间隙。2、 如权利要求1所述的磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，其特征在于伸出挡板(6) 的每二片铁芯片(4)之间的间隙为0.15mm。3、 如权利要求1所述的磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，其特征在于挡板(6)外的 铁芯体(3)的间隙数为二个及二个的偶数倍。专利摘要本技术公开了一种测量各向同性金属片的磁性用直流测量传感器。包括磁化线圈(1)、磁化线圈接柱(2)和铁芯体(3)。本传感器为半方形或半圆弧形，在每2片铁芯片(4)之间固定有非磁性材料层(5)，由铁芯片(4)及非磁性材料层(5)组成的铁芯体(3)两端接近末端处连接有挡板(6)，铁芯体(3)外包装有绝缘层(7)，磁化线圈(1)绕在绝缘层(7)外；磁化线圈接柱(2)固定在挡板(6)上或呈自由状态；伸出挡板(6)外的铁芯体(3)的每二个铁芯片(4)之间有间隙。与现有技术相比，主要特点采用外衔接式装样，测量中操作尤为方便；测量重复性好、可比性强、待测试样制作简单、时间短；该测量传感器能重复使用。文档编号G01R33/12GK201181326SQ2本文档来自技高网...

【技术保护点】
磁各向同性金属片磁性直流测量传感器，包括磁化线圈（１）、磁化线圈接柱（２）和铁芯体（３），其特征在于：本传感器为半方形或半圆弧形，在每２片铁芯片（４）之间固定有非磁性材料层（５），由铁芯片（４）及非磁性材料层（５）组成的铁芯体（３）两端接近末端处连接有挡板（６），铁芯体（３）外包装有绝缘层（７），磁化线圈（１）绕在绝缘层（７）外；磁化线圈接柱（２）固定在挡板（６）上或呈自由状态；伸出挡板（６）外的铁芯体（３）的每二个铁芯片（４）之间有间隙。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姚腊红，党宁员，赵启博，亓福荣，
申请(专利权)人：武汉钢铁集团公司，
类型：实用新型
国别省市：83[中国|武汉]