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多通道磁比较仪制造技术

技术编号:2638039 阅读:172 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种多通道磁比较仪,它由测量头、激励电源及直流可控电源等构成,其特殊之处是该测量头由A、B探头叠合而成,通过测量头上缠绕的比例绕组形成B探头对A探头的耦合偏置,从而使该比较仪不仅误差小,而且结构简单、成本低。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种多通道磁比较仪,该磁比较仪用于测量直流电流,属电磁测量
对直流电流特别是强直流电流进行测量,目前应用最广泛的是磁比较式直流电流比较仪,即磁比较仪,它一般由测量头、通过电缆与测量头连接的激励电源,以及给测量头上的比例绕组供电的直流可控电源等构成,使用时被测电流从测量头中穿过,根据测量头上比例绕组的缠绕方式可将比较仪分为两大类,一类是在测量头上均匀缠绕一个比例绕组,称为单通道磁比较仪,另一类是将测量头分成多段,每段上分别缠绕一个比例绕组,称为多通道磁比较仪,由于外磁场的干扰及磁比较仪是用有差调节原理测量,因此这两类比较仪均存在磁误差和测量方法误差,单通道磁比较仪的磁误差大,不易消除,在实际中很少运用,多通道磁比较仪的磁误差较小,在实际中应用较广,但它的测量方法误差却难以满足要求,人们为了得到足够的小的测量方法误差,不得不增加测量头上比例绕组的个数,并加装十分庞大的磁屏蔽,这便使该仪器的结构十分复杂且成本较高。为此,本专利技术的目的在于克服现有技术之不足,并提供一种结构简单、成本较低的磁比较仪。实现本专利技术目的的技术方案为一种多通道磁比较仪,包括测量头、通本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多通道磁比较仪,包括测量头[2]、通过电缆[9、12]与测量头[2]相连的激励电源[10、11],以及给测量头[2]上的比例绕组[5、13]供电的直流可控电源[6、7],其特征在于:测量头[2]由A控头[4]和B探头[3]叠合而成,A探头[4]由单通道霍尔测磁器的探头及缠绕在其上的一个比例绕组[5]构成,B探头[3]则为均分成多段,且每段中开有气隙、气隙内置有霍尔元件[14]的环状多边形铁芯,A、B探头[4、3]叠合而成的测量头[2]同样被均分成多段,其分段点与B探头[3]的分段点相同,且每段上均匀缠绕有一个比例绕组[13]。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:韩德芳张科郭元春
申请(专利权)人:郭元春韩德芳
类型:发明
国别省市:83[中国|武汉]

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