分光光度计比色架制造技术

一种分光光度计比色架，包括底架、以及设置在底架上且与底架合为一体的器皿盒，底架设有固定孔且通过固定孔中的螺栓固定在分光光度计样品室的检测光路上，器皿盒为底板、侧板和端板围合形成的矩形无盖盒，用以放置多种光程、多种形状、多种大小规格不同的比色皿，端板上设有光路孔，用以检测光束的通过，在器皿盒内部一侧的侧板上设有与侧板合为一体的弹片，用以对器皿盒内的比色皿施加张紧力，保证比色皿的稳定，底板的中部设有试管孔且试管孔的孔壁上也设有与底板合为一体的弹片，用以比色管的固定。本发明专利技术为一体化结构件，兼容多种比色器皿，使得一台分光光度计可以使用多种比色器皿进行检测，扩大了应用范围，满足了不同的检测需要。

【技术实现步骤摘要】
分光光度计比色架
本专利技术涉及一种分光光度计检测配套部件，尤其涉及一种分光光度计比色架，属于光学检测装备生产制造

技术介绍
物质对不同波长光波的选择性吸收、以及对该波长光波相应的吸收系数，是该物质的物理常数。因此，当已知某纯物质在一定条件下的吸收系数后，可在同样条件下，将含有该物质的供试品配制成溶液，通过测定该溶液对特定波长光波的吸收度后，即可计算出供试品中该物质的含量。根据上述原理设计制造的分光光度计，就是将点光源发出的多色光，通过系列分光装置分解成特定波长的光源，选择其中某一特定波长的光束透过测试样品溶液，使其部分光线被吸收，然后测定并计算出样品的吸光值，从而转化成样品的浓度，得到样品中被检物质的含量。现有技术中的分光光度计主要由光源、单色器、样品室、检测器、信号处理器和显示与存储系统组成。与分光光度计配套使用的重要配件是比色器皿，包括比色杯、比色皿或比色管等，装有被测溶液的比色器皿需要放置在分光光度计样品室内的比色架上才能进行检测，通常，将光束通过比色器皿的距离称之为光程。根据不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分光光度计比色架，用以将装有被检样品溶液的比色皿或比色管固定放置在分光光度计的样品室中进行分光光度检测，其特征在于，包括：/n一体式底架、以及设置在所述底架上且与所述底架合为一体的器皿盒；/n所述底架设有固定孔，所述底架通过穿插在所述固定孔中的螺栓固定在所述分光光度计样品室的检测光路上；/n所述器皿盒包括矩形底板、矩形侧板和矩形端板，所述侧板设置在所述底板的两侧，所述端板设置在所述底板的两端且与所述侧板连接，所述侧板和所述端板围合在所述底板的四周形成矩形无盖盒；/n所述端板上设有光路孔；/n在所述器皿盒内部一侧的所述侧板上设有与所述侧板合为一体的弹片；/n所述底板的中部设有试管孔且所述...

【技术特征摘要】
1.一种分光光度计比色架，用以将装有被检样品溶液的比色皿或比色管固定放置在分光光度计的样品室中进行分光光度检测，其特征在于，包括：
一体式底架、以及设置在所述底架上且与所述底架合为一体的器皿盒；
所述底架设有固定孔，所述底架通过穿插在所述固定孔中的螺栓固定在所述分光光度计样品室的检测光路上；
所述器皿盒包括矩形底板、矩形侧板和矩形端板，所述侧板设置在所述底板的两侧，所述端板设置在所述底板的两端且与所述侧板连接，所述侧板和所述端板围合在所述底板的四周形成矩形无盖盒；
所述端板上设有光路孔；
在所述器皿盒内部一侧的所述侧板上设有与所述侧板合为一体的弹片；
所述底板的中部设有试管孔且所述试管孔的孔壁上也设有与所述底板合为一体的弹片。


2.根据权利要求1所述的分光光度计比色架，其特征在于：
所述器皿盒其内部长度为10cm；
所述光路孔为矩形通孔；
所述试管孔为圆形孔与方形孔套合在一起形成的通孔，且所述试管孔其圆形孔的孔径适配现有技术中标准试管的外径。


3.根据权利要求1所述的分光光度计比色架，其特征在于：
还包括定位卡标；
所述定位卡标设置在所述器皿盒外侧的所述侧板上，且所述定位卡标根据所述分光光度计的检测光束从所述器皿盒一端的光路孔中进入后开始计算的光程进行设置。


4.根据权利要求3所述的分光光度计比色架，其特征在于：
所述定位卡标以5cm光程间隔设置，且在所述器皿盒外侧的所述侧板上采用与所述侧板合为一体的方法标注所述光程的具体数值。


5.根据权利要求3所述的分光光度计比色架，其特征在于：
还包括定位挡桥；
所述定位挡桥为门形，所述定位挡桥包括挡条和连接在所述挡条两端的卡柱，所述卡柱与所述定位卡标之间设有相互配合的卡合机构，所述定位挡桥跨骑在两块所述侧板之间并通过所述卡合机...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩明山，谢玉生，向秋波，华兴，刘凤梅，
申请(专利权)人：上海元析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31