【技术实现步骤摘要】
一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法
本专利技术涉及光谱分析
，尤其涉及的是，一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法。
技术介绍
近红外光谱分析技术凭借其便携式、分析速度快、精度高的特点，成为近年来发展较为迅速的一种无损伤共性检测技术，并在石油化工、农业、食品等领域得到广泛应用。该波段光谱反应的是分子内部含氢基团振动的倍频和合频振动信号，携带了丰富的物质结构和成分信息，且不同的含氢基团具有不同的红外吸收波长，即使相同的基团在不同的化学环境中也可能具有不同的吸收波长和吸收强度。因此，基于比尔-朗伯定律建立数学模型，利用光谱分析技术可实现对物质特性和成分含量的识别分析。光谱分析作为一种间接分析手段，在进行某些现场检测的特殊环境，高散射性检测目标会影响吸光度光谱采集的准确性，进而破坏了比尔-朗伯定律的成立条件，影响后期模型的分析精度和检出限。光谱预处理可以消除大部分散射干扰，但对于某些多元非线性散射效应，光谱预处理会同时将那些比散射效应还弱的化学组分光谱信息湮没。偏振调制光谱技术的出现将光谱分析...
【技术保护点】
1.一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置，包括漫反射光谱采集系统，其特征在于，还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮；入射光方位角调节支杆固定在样品台底座上，反射光方位角调节支杆固定在样品台旋转底座上，样品台旋转底座可在样品台底座-1上360°旋转并读取旋转角度，通过旋转样品台旋转底座可实现入射光和反射探测光方位角调节；所述偏振角调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座和偏振片；偏振片安装在旋转安装座中，两个光纤准直器安装...
【技术特征摘要】
1.一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置，包括漫反射光谱采集系统，其特征在于，还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位角调节支杆、入射光天顶角调节旋钮及反射光天顶角调节旋钮；入射光方位角调节支杆固定在样品台底座上，反射光方位角调节支杆固定在样品台旋转底座上，样品台旋转底座可在样品台底座-1上360°旋转并读取旋转角度，通过旋转样品台旋转底座可实现入射光和反射探测光方位角调节；所述偏振角调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座和偏振片；偏振片安装在旋转安装座中，两个光纤准直器安装在旋转安装座的两侧；所述偏振度调制附件，包括光纤准直器、旋转安装座、偏振片、1/4波片和光学镜筒；1/4波片安装在旋转安装座中，偏振片安装在光学镜筒中，两个光纤准直器分别安装在旋转安装座和光学镜筒两侧。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述反射光谱测试附件中的入射光方位角调节支杆和反射光方位角调节支杆通过各自拐角连接处进行高低和长短调节，实现入射光天顶角调节旋钮、反射光天顶角调节旋钮到样品台旋转底座的距离和位置调节。
3.一种偏振角调制光谱测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、搭建偏振角调制光谱测试系统，由光源、偏振角调制附件、反射光谱测试附件、光谱仪、PC机和光纤组成；
步骤2、调节偏振角调制附件中的偏振片的偏振方向，确定光源偏振方向和探测偏振方向；
步骤3、反射光谱测试附件的样品台旋转底座和天顶角调节旋钮，完成入射光和反射光方位角、入射光和反射光天顶角的调节；
步骤4、在扣除机器噪声后，利用标准漫反射白板完成该偏振调制模式下物体偏振反射光谱的采集。
4.一种反射率线偏振度光谱测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、搭建反射率线偏振度光谱测试系统，由光源、偏振角调制附件、反射光谱测试附件、光谱仪、PC机和光纤组成；
步骤2、确定光源偏振方向和探测偏振方向，并将探测偏振方向调至0°；调节反射光谱测试附件的样品台旋转底座和天顶角调节旋钮，完成入射光和反射光方位角、入射光和反射光天顶角的调节；
步骤3、在扣除机器噪声后，利用标准漫反射白板将光谱系统设置为反射率光谱采集模式；
...
【专利技术属性】
技术研发人员：庄新港，史学舜，张鹏举，刘红博，刘长明，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东;37
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