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本发明公开了一种用于光谱分析的偏振调制光谱测试装置与测试方法，其中测试装置，包括漫反射光谱采集系统，还包括反射光谱测试附件、偏振角调制附件和偏振度调制附件；所述反射光谱测试附件包括样品台底座、样品台旋转底座、入射光方位角调节支杆、反射光方位...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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