电流检测装置制造方法及图纸

一种电流检测装置（１０）包括具有平行的中心轴线（７６，７８）的第一和第二纵向延伸部分（１８，２０）和在纵向延伸部分之间延伸的连接器部分（２２）的导电体（１２）。连接器部分（２２）具有与纵向延伸部分（１８，２０）的中心轴线（７６，７８）平行地延伸的中心轴线（８２）。磁通传感器（１４）设置在连接器部分的附近以检测在传导体中传导的电流的变化。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测在导电体中的电流的装置，该装置包括磁通传感器。人们已经应用霍耳效应器件来检测通过导电体中的电流产生的磁通的变化。这些公知的装置中的一些装置应用磁通集中器来将通过导电体中的电流产生的磁通集中。人们已经知道可以按照在美国专利US4,587,509和4,616,207中公开的方法构造电流检测装置。本专利技术提出一种电流检测装置，这种电流检测装置包括具有连接器部分的导电体，该连接器部分在导电体纵向延伸段之间延伸。磁通传感器设置在该连接器部分附近。磁通传感器可包括由电绝缘材料形成的支撑和磁通敏感装置(比如霍耳效应器件)。连接器部分具有中心轴线，该中心轴线与导电体的纵向延伸段的中心轴线平行地延伸。霍耳效应器件具有磁通敏感表面，该敏感表面垂直于连接器部分的中心轴线延伸。在本专利技术的一个实施例中，磁通传感器至少部分地设置在形成在连接器部分中的开口中。在本专利技术的另一个实施例中，磁通传感器设置在与连接器部分的内表面相接合处。结合附图以及考虑下文的详细描述本专利技术的前述的以及其它的目标和特征将会更清楚，其中附图说明图1所示为依据本专利技术构造的电流检测装置的简化示意图，为了说明的清晰，在图1中省略了磁通传感器；图2所示为具有相对于导电体设置的磁通传感器的图1所示的电流检测装置的俯视图；图3所示为电流检测装置的第二实施例的简化示意图，为了说明的清晰，省略了磁通传感器；图4所示为说明磁通传感器与导电体的关系沿着图3中的4-4线的端视图5所示为与附图1类似的电流检测装置的另一个实施例的简化示意图，为了说明的清晰性，省略了磁通传感器。图1和2所示为依据本专利技术构造的电流检测装置10。电流检测装置10包括导电体12和磁通传感器14(附图2)。为了说明磁通集中在磁通传感器设置的区域(附图2)的方式在附图1中省略了磁通传感器14。导电体2包括纵向延伸部分18和20，这两个延伸部分18和20从连接器部分22开始在相反的方向上延伸。连接器部分22使得磁通传感器14能够设置在这样的一个位置在该位置上能够将磁通传感器最大限度地暴露在导电体12产生的磁通场中。连接器部分22将磁通集中在磁通传感器14设置的位置。纵向延伸部分18自连接器部分22朝左延伸(如附图1和2所示)。纵向延伸部分20自连接器部分22朝右延伸。虽然如图所示纵向延伸部分18和20自连接器部分22开始在相反的方向上延伸，如果需要的话纵向延伸部分18和20也可以自连接器部分22开始在相同的方向上延伸。纵向延伸部分18和20和连接器部分22由导电材料(即金属比如铜)整体形成为一体。可以考虑的是，纵向延伸部分18和20和连接器部分22可以由单个薄金属片压制而成，然后弯曲成如附图1和2所示的结构。当然，如果需要的话，导电体12的纵向延伸部分18和20和连接器部分22也可以以不同的方式形成。应该理解的是，纵向延伸部分18和20可以具有不同的结构。例如，如果需要的话，纵向延伸部分18和20可以是圆柱形结构。在本专利技术的附图1和2所示的实施例中，磁通传感器14容纳在连接器部分22形成的开口26中。所示的开口26形成为完全穿过连接器部分的开槽。所示的开口26为矩形结构。然而，如果需要的话可以考虑开口26具有不同的结构。导电体12的朝左(如附图1和2所示)纵向延伸部分18具有平面平行的上部和下部主侧表面30和32。类似地，朝右(如附图1和2所示)纵向延伸部分20具有平面平行的上部和下部主侧表面34和36。导电体12的朝左纵向延伸部分18的主侧表面30和32与朝右纵向延伸部分20的主侧表面34和36平行地延伸，并且在竖直方向上与其错开。虽然在本专利技术的所示的实施例中导电体12的纵向延伸部分18和20的主侧表面30、32、34和36都彼此相互平行，但是如果需要的话也可以考虑主侧表面彼此相对倾斜。在附图1和2所示的本专利技术的实施例中，朝左纵向延伸部分18的下部主侧表面32与朝右纵向延伸部分20的上部主侧表面34间隔开。然而，可以考虑导电体12的朝左和朝右的纵向延伸部分18和20的主侧表面32和34设置成彼此相接合。可替换的是，在导电体12的朝左和朝右的纵向延伸部分18和20的主侧表面32和34之间可以提供电绝缘材料层或薄的涂层。还可以考虑这样构造连接器部分22和导电体12的朝左和朝右的纵向延伸部分18和20将朝左纵向延伸部分18的上部主侧表面30与朝右纵向延伸部分20的上部主侧表面34设置成共面关系。当然，应用这种结构，朝左和朝右的纵向延伸部分18和20的下部主侧表面32和36也可以设置成共面关系。连接器部分22从朝左纵向延伸部分18的端部40和朝右纵向延伸部分20的端部42延伸。连接器部分22包括一对平行臂部分44和46。连接器部分22的臂部分44和46由弯曲部分48连接。弯曲部分48在弯曲所包围的空间中集聚磁通。在附图1和2所示的本专利技术的实施例中，臂部分由主侧表面形成，该主侧表面是导电体12的朝左和朝右的纵向延伸部分18和20的主侧表面的延伸部分。因此，上部臂部分44(如附图1和2所示)具有上部主侧表面和下部主侧表面，该上部主侧表面和下部主侧表面分别是朝左纵向延伸部分18的上部主侧表面30和下部主侧表面32的延伸部分。类似地，臂部分46具有上部主侧表面和下部主侧表面，该上部主侧表面和下部主侧表面分别是朝右纵向延伸部分20的上部主侧表面34和下部主侧表面36的延伸部分。连接器部分22可以与纵向延伸部分18和20分离地形成。如果是这样的话，连接器部分22的一端连接到纵向延伸部分18。连接器部分22的相对的另一端连接到纵向延伸部分20。如果朝左和朝右纵向延伸部分18和20是由两根电缆形成的话，则这种结构尤其有利。在本专利技术所示的实施例中，连接器部分22的臂部分44和46彼此平行地延伸。然而，可以考虑臂部分44和46也可以彼此相对倾斜或朝外倾斜。为提供在附图1和2中所示的平行的臂部分44和46，弯曲部分48具有弧形结构并延伸180°。臂部分44和46纵向地延伸到弯曲部分48。然而，可以考虑弯曲部分48也可以延伸超过180°的弧度。如果是这种结构的话，平行的臂部分44和46在附加的弯曲部分与弯曲部分48相连，该附加的弯曲部分与弯曲部分48平行地延伸。例如，可以考虑上部臂部分44的下部主侧表面和下部臂部分46的上部主侧表面彼此邻接。如果需要的话可以在臂部分44和46之间提供绝缘材料薄层。如果是这种结构，弯曲部分48就可以弯曲大约360°。可替换的是，弯曲部分48的弧度小于180°。臂部分44和46在弯曲部分48中拉直。如果形成的弯曲部分48具有更小的弧度，则可以在臂部分44和46和朝左和朝右纵向延伸部分18和20之间的连接处形成轻微的弯曲。朝左纵向延伸部分18的主侧表面30和32与朝右纵向延伸部分20的主侧表面34和36平行。然而，可以相信的是，形成弯曲部分48具有至少180°的弧度对于增进磁通在弯曲部分中集聚是有利的。电流通过朝左纵向延伸部分18传导到连接器部分22中。在附图1和2中以箭头52粗略地示出在朝左纵向延伸部分18中流动的电流。电流从朝左纵向延伸部分18的端部部分40以在附图1中的箭头54所示的方式流到连接器部分22的上部臂部分44中。电流从上部臂部分44沿着开口26的相对侧面按照本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电流检测装置（１０），包括具有第一和第二纵向延伸部分（１８，２０）和在所说的第一和第二纵向延伸部分之间延伸的连接器部分（２２）的导电体（１２），所说的连接器部分（２２）具有中心轴线（８２），磁通传感器（１４）设置在所说的连接器部分的所说的中心轴线（８２）的附近以检测在所说的传导体中传导的电流的变化。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：马克艾伦朱蒂斯，库尔特冯埃克罗斯，查尔斯约瑟夫坦尼斯，詹姆斯埃德华汉森，马克乔治索尔夫森，杰罗姆肯尼斯哈斯汀，斯科特里德，
申请(专利权)人：尹顿公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]