【技术实现步骤摘要】
本专利技术是有关于一种测量装置,且特别是关于一种漏电流和绝缘阻抗测量装置。
技术介绍
现在电子工业专业分工的机制已十分成熟,无源元件的制造已然是产业链中相当关键的环节之一。以多层陶瓷电容器(Multi-layer CeramicCapacitor,MLCC)来说,因其以内层堆迭的方式制造,故每一层与层之间的绝缘是相当重要的。若层与层之间的材质不良(如粉末密度不均匀)或是无法承受因热涨冷缩所导致的结构改变,在电容的两电极间加上电压后,极可能因层与层之间的绝缘材质崩溃而产生漏电流,影响电路的正常功能。此外,钽电容正负极间的介电层厚度亦会影响漏电流大小,若漏电流过大很容易造成电容器短路,影响其他电路元件的运作。业者深知使用电容器必须留意规格与线路要求,然而由于目前分工极细,由于设计者与生产者各自分工的结果,使得产品品质更加不易掌握。换句话说,虽然产品在生产前已经过严密的设计及测试,但生产过程中的诸多因素仍可能影响最后的结果。为确保产品规格能达到客户要求,出厂前都需要经过取样测试的品管程序,并依据测试结果来判断产品品质是否符合预期。为了提高测试结果的可信度,样本数的增 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:杨鸿蔘,
申请(专利权)人:宏达国际电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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