涡流校正方法与磁共振成像设备技术

为了在有限的输出范围内进行最佳的涡流校正，计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值（５０１－５０５）；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正（５０７、５２１、５２５）；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡流影响的多个梯度磁场（５０７－５１７），并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正（５１９－５２５）。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种涡流校正方法和磁共振成像设备，更加具体地说，本专利技术涉及一种校正涡流对梯度磁场的影响的方法以及包括涡流校正装置的磁共振成像设备。
技术介绍
在磁共振成像设备中，将校正信号附加到梯度磁场信号上，以校正涡流对梯度磁场产生设备(例如，见专利文献1)产生的梯度磁场的影响。为了校正短时间常数涡流的这种校正信号的附加有时称之为预加重。这个术语来源于预先加重波形的一种技术，其中考虑到由于涡流的影响使有效的梯度磁场波形弱化的情况。日本专利申请特开平4-22338(页3-4，图2-3)然而，由于梯度电源等的输出限制，有时不可能按照要求进行预加重，因而不可能准确地进行涡流校正。
技术实现思路
因此本专利技术的一个目的是提供一种在有限的输出范围内进行最佳的涡流校正的方法以及包括这样的涡流校正装置的磁共振成像设备。(1)为了解决上述问题，本专利技术的一个方面是一种涡流校正方法，其特征在于包括计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值模拟受涡本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种涡流校正方法，包括：计算用于对梯度磁场进行涡流校正的一个校正值；如果计算的校正值不超过预定的上限值，则使用这个计算的值对于梯度磁场进行校正；如果计算的校正值超过预定的上限值，则使用不大于这个上限值的多个候选校正值 模拟受涡流影响的多个梯度磁场，并使用能够获得相对来说最佳的梯度磁场的候选校正值对梯度磁场进行校正。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：植竹望，
申请(专利权)人：GE医疗系统环球技术有限公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]