测试头对接系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一用于将一电测试头与一处理设备对接的系统。该系统包括至少部分地校准并基本上将所述电测试头与处理设备集合在一起的一个组件。该系统还包括仅提供部分的动力帮助将所述电测试头与处理设备集合在一起的一动力驱动致动器。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子测试头对接领域，特别地涉及通过一个或多个对接致动的对接致动器为凸轮施加、至少部分动力的一用于测试头对接的方法和装置。
技术介绍
在制造集成电路(ICs)和其它电子装置过程中，使用自动测试设备(ATE)在整个过程的一个或多个阶段进行测试。使用特殊处理设备把要测试的装置定位进行测试。在某些情况下，当对要测试的装置进行测试时，所述特殊处理设备可以将其置于适当的温度和/或保持其在适当的温度。所述特殊处理设备包括对在一个晶片上没封装的装置进行测试的“探针”和对封装部分进行测试的“装置处理机”的各种类型；下面“处理设备”就用于指这种设备。由一个大型和昂贵的ATE系统提供自身电子测试，所述ATE系统包括一个要与所述处理设备连接和对接的测试头。所述进行测试的装置(DUT)要求准确、高速信号以使测试更有效；因此，在ATE内部的用于测试所述DUT的所述“测试电子仪器”一般地被放在所述测试头上，所述测试头必须尽可能地靠近所述DUT。随着电子连接器数量的增加使DUT变得更加复杂，所述测试头非常重，其尺寸和重量从几百磅增长到最近的两到三千磅。通过一电缆装置，所述测试头一般地与所述ATE的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一用于将一电测试头与一处理设备对接的系统，包括：　　　　至少部分地校准并随后将所述电测试头与处理设备集合在一起的一个组件；和　　　　仅提供部分的动力帮助将所述电测试头与处理设备集合在一起的一动力驱动致动器。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：瑙姆古丁，克里斯托弗L韦斯特，I马文韦勒斯坦，尼尔斯O尼，阿林R霍尔特，
申请(专利权)人：因泰斯特IP公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]