一种直调直检光调制器自动偏压控制装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种直调直检光调制器自动偏压控制装置，在马赫曾德尔调制器内存在两个独立的相位控制器，所述相位控制器与调制器内的高速相移器串联；分别在两个相位控制器上加载独立的相位控制信号用来控制两个调制臂之间的静态相位差；同时有一个监测探测器用来监测输出光功率的大小。本发明专利技术提供的直调直检光调制器自动偏压控制方案的锁定效果同相位控制器的线性度无关，能适应于传统地铌酸锂型调制器，也能适用于半导体基材的调制器，比如硅基或者ⅢⅤ族材料的调制器；本发明专利技术提供的直调直检光调制器自动偏压控制方案的锁定精度受激光器光功率的稳定性以及探测器响应度一致性的影响不大，锁定精度高。本发明专利技术还提供了相应的自动偏压控制方法。

【技术实现步骤摘要】
一种直调直检光调制器自动偏压控制装置和方法
本专利技术属于光通信
，更具体地，涉及一种直调直检光调制器自动偏压控制装置和方法。
技术介绍
在光通信领域中，直调直检技术由于其成本低廉，系统简单，被广泛应用到接入网、数据中心互联等中短距的传输系统中。随着通信速率不断攀升，传统分立的光器件在成本和功耗上逐渐适应不了光通信系统越来越高的成本和功耗的要求，因此以半导体工艺拓展开的小型化紧凑型光器件逐渐被市场认可和接受，应用量不断加大，其中硅光、ⅢⅤ族复合半导体技术是典型的代表。高质量的直调直检系统，往往会采用马赫曾德尔调制器作为电光转换的媒介，而马赫曾德尔调制器需要将两个调制臂的静态相位差稳定在在π/2或者3π/2的位置时，才能达到最优的直调直检效果。为了达到这个效果，需要设计一套装置和控制方法来控制调制器相位控制的偏压，锁定上述两个调制臂的静态相位差。关于偏压控制，传统基于铌酸锂调制器已经有了一些的方案：一种方案是采用探测绝对光功率的方式，但是该方式的准确性会受到激光器光功率的稳定性和探测器响应度一致性的影响；另一种方案是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，在马赫曾德尔调制器内存在两个独立的相位控制器，所述相位控制器与调制器内的高速相移器串联；分别在两个相位控制器上加载独立的相位控制信号用来控制两个调制臂之间的静态相位差；同时有一个监测探测器用来监测输出光功率的大小。/n

【技术特征摘要】
1.一种直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，在马赫曾德尔调制器内存在两个独立的相位控制器，所述相位控制器与调制器内的高速相移器串联；分别在两个相位控制器上加载独立的相位控制信号用来控制两个调制臂之间的静态相位差；同时有一个监测探测器用来监测输出光功率的大小。


2.如权利要求1所述的直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，所述装置各个部件的功能材料可以基于铌酸锂，硅基，或ⅢⅤ族复合半导体等基材。


3.如权利要求1或2所述的直调直检光调制器，其特征在于，所述两个独立的相位控制器分别位于两个不同的调制臂，或者两个独立的相位控制器位于同一个调制臂。


4.如权利要求1或2所述的直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，所述马赫曾德尔调制器的输出端为2×1合束器，所述2×1合束器后连接一个耦合分束器，该耦合分束器分出主通道的一部分光并送到所述监测探测器。


5.如权利要求1或2所述的直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，所述马赫曾德尔调制器的输出端为2×2分束器，所述2×2分束器的一个分束为主输出通道，另外一个分束输出到所述监测探测器。


6.如权利要求1或2所述的直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，所述直调直检光调制器自动偏压控制装置采用分立器件搭建，或者直调直检光调制器自动偏压控制装置的各器件集成在同一基材上。


7.如权利要求1或2所述的直调直检光调制器自动偏压控制装置，其特征在于，在上述两个独立的相位控制器的直流电压上分别叠加上不同频率的导频信号，导频频率分别为f1和f2，通过解析监测探测器中|f1-f2|或者f1+f2处频率分量的信号，并通过控制两个独立相位控制器上的直流电压的大小，使得|f1-f2|或者f1+f2处的频率分量稳定在幅度最小值或者相位...

【专利技术属性】
技术研发人员：余胜，曹权，
申请(专利权)人：烽火通信科技股份有限公司，武汉飞思灵微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42