电磁波检测系统技术方案

一种电磁波检测系统，包括测试台、第一水平天线、第一垂直天线以及信号处理单元。测试台用来放置待测物，第一水平天线位于电波暗室的一处、第一垂直天线位于电波暗室的另一处，第一水平天线及第一垂直天线用来分别接收电磁波，并据此产生一个水平电波及一个垂直电波。信号处理单元耦接到第一水平天线及第一垂直天线，信号处理单元用来转换并分析所述水平电波及所述垂直电波。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电磁波检测系统，特别涉及一种配置在电波暗室中的电磁波检测系统。
技术介绍
现代社会中，电子产品几乎无所不在，每个电子产品在使用时都会或多或少产生电磁波，过大的电磁波强度将会对人体产生伤害。电子产品在上市或出口前，都必须先经过电磁波检验测试，检验合格的产品才能获准上市或出口。目前检验电磁波的方式是将电子产品放置在电波暗室中以进行测试。请参见图1A、图1B、图1C及图1D，它们分别是传统电波检测系统的第一示意图、传统电波检测系统的第二示意图、传统电波检测系统的第三示意图及传统电波检测系统的第四示意图。如图1A所示，当待测物102放置在测试台101进行测试时，天线103先调整成为水平方向以接收电磁波且天线103位于第一高度h1。如图1B所示，接着转换天线103调整成垂直方向接收待测物102电磁波且同样位于第一高度h1。如图1C所示，接着再调整天线103到第二高度h2测量待测物102的电磁波，且天线103呈水平方向。如图1D所示，最后在第二高度h2，再调整天线到垂直方向再测试一次，才能完成全部的测试。因此，传统检验电磁波的方式需要经过四段调整的时间，分别是将天线调整为水本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁波检测系统，配置在一电波暗室中，所述电磁波检测系统用来测试待测物的一电磁波，所述电磁波检测系统，其特征在于，包括：一测试台，用来放置所述待测物；一第一水平天线，位于所述电波暗室的一处；一第一垂直天线，位于所述电波暗室的另一处，所述第一水平天线及所述第一垂直天线用来分别接收所述电磁波，并分别据以产生一水平电波及一垂直电波；以及一信号处理单元，耦接到所述第一水平天线及所述第一垂直天线，所述信号处理单元用来转换并分析所述水平电波及所述垂直电波。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林庆源，吴明芳，刘培智，王育国，林义凯，林盛里，
申请(专利权)人：虹光精密工业苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]