不必要电磁辐射测定方法和测定装置以及测定系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种不必要电磁辐射的测定方法、测定装置以及测定系统，连接从其一端引出接口电缆以及所述电缆的硬盘驱动器，并在与该一端相反侧的另一端连接沿该电缆的引出方向延伸的导电性夹具；用中空的导电性箱体覆盖沿该电缆的引出方向依次排列的该夹具、该硬盘驱动器以及该电缆而形成同轴结构的传输线路；同时对流经所述接口电缆以及所述电源电缆中流动的共模电流、和所述导电性箱体的电位进行测定，由此对来自上述硬盘单体的不必要电磁辐射进行测定。

【技术实现步骤摘要】

0001本专利技术涉及对包含硬盘在内的不必要电磁辐射、亦即由此产生的电磁干扰的电平进行测定的技术。
技术介绍
0002现在，针对从信息处理装置放射出的不必要电磁波的限定已适用于各种信息处理装置。例如，在美国由FCC(FederalCommunications Commission的略称)、在日本国内是由VCCI(信息处理装置等电波妨害主动限制协会(Voluntary Control Council forinformation Technology Equipment的略称)来进行针对信息处理装置的不必要电磁辐射的限定。在这些限定中规定在距离3米或10米的地方对从作为测定对象的信息处理装置整体产生的电场进行测定，并对该电场强度进行了限定。0003由于这些规定是以从信息处理装置整体产生的电场作为限定对象，所以尚未进行针对在内部使用的硬盘驱动器等部件单体的限定。0004另外，作为测定不必要电磁波的方法来说，还有使用专利文献1中所述的电波暗室(Radio Wave Anechoic Chamber)的测定方法。0005(专利文献1)日本专利公开特开2002-064294号0006硬盘驱动本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用了中空的导电性机壳的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：在将连接在硬盘上的接口电缆以及电源电缆引至导电性机壳的外部、且经绝缘部件将硬盘固定于该机壳的状态下，　以对硬盘内的配线或元件施加了规定信号的状态，对在硬盘的接口 电缆以及电源电缆上流过的共模电流、和硬盘箱体的电位进行测定。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：鸟越诚，须贺卓，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]