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按键测试方法技术

技术编号:2633163 阅读:162 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种按键测试方法,包括如下步骤:步骤一、定位打击头组,该打击头组包括打击头座及可移动地安装于打击头座的打击头;步骤二、驱动打击头组的打击头座向下移动并离开打击头组的打击头;步骤三、打击头作自由落体运动;步骤四、打击头打击测试按键;步骤五、移动打击头座及打击头。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种,特别指一种利用打击头作自由落体运动所产生的力来打击按键的高速精确的。
技术介绍
随着技术的发展,越来越多的电子产品被研制出来,而作为人机界面的一种输入设备,键盘也越来越普及,其种类繁多,计算机键盘是其常见的一种,其使用非常频繁,对键盘上的按键的使用寿命要求也较长。一般键盘制造商在键盘制造完成之后,要对键盘进行检测,以挑选出不符质量要求的键盘。现有的键盘测试是通过人工用预定的力逐个点击键盘上的按键,依据键盘相应的输入情况判定该键盘是否为合格品。然而,用人工点击键盘,劳动强度大,效率较低。而且不能保证确实用预定的力点击键盘,甚至有时会漏了点击一些按键,或点击按键位置不符合规定。
技术实现思路
本专利技术主要目的在于提供一种,其利用打击头在设定的行程内作自由落体运动所产生的力来打击测试按键,从而保证打击力度的均一性,而且打击速度快,效率高。本专利技术另一目的在于提供一种,其利用打击头在设定的行程内作自由落体运动所产生的力来打击测试按键,可用于自动化设备上,不仅保证打击力度的均一性,而且保证打击点的精确性。为实现上述的目的,本专利技术提供一种,包括如下步骤步骤一、定位打击本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种按键测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、定位打击头组,该打击头组包括打击头座及可移动地安装于打击头座的打击头;步骤二、驱动打击头组的打击头座向下移动并离开打击头组的打击头;步骤三、打击头作自由落体运动;   步骤四、打击头打击测试按键。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:余文雄
申请(专利权)人:余文雄
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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