一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构，所述接口结构包括固定于所述射频功放芯片测试机侧面的插线区，所述插线区上安装若干条1A的电线，所述电线连接到pin脚插座上。一该接口结构能够简化测试不同芯片需要频繁插线、拔线的过程，该接口结构简单、且不易出错。

【技术实现步骤摘要】
一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构
本技术涉及射频集成电路芯片性能测试
，具体涉及一种用于射频功放芯片测试机的大电流接口结构。
技术介绍
射频功放芯片测试机在对不同类型的芯片进行检测时，需应对各种不同种类的芯片实现多种供电的电压、电流，其示意图如图1所示，对应供电要求多种多样。如有的要求150V供电，电流却很小，只有50mA。有的要求50V供电，电流却要求20A。这对于相对比较通用的测试机来说很难应对走线的要求。通常电线最大通过电流1A，若需要5A时，传统方法通常是直接换一根比较粗的电线，用4根这样的粗电线插入测试机进行测试即可，若最大电流为10A，那么就需要换一个更粗的最大电流为10A的电线，用4根这样的粗电线插入测试机进行测试。现有技术的缺点：（1）所需要的电流越大时，现有技术倾向于将走线设计的越粗，导致设备对电流需求发生变化时不能及时应对需求，只能不停换线，很不灵活。（2）由于每换一个不同的芯片测试，需要重新布线，传统方法需要至少三次抽线，三次插线，可能会插错影响测试效率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构，其特征在于，所述接口结构包括固定于所述射频功放芯片测试机侧面的插线区，所述插线区上安装若干条1A的电线，所述电线连接到pin脚插座上。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构，其特征在于，所述接口结构包括固定于所述射频功放芯片测试机侧面的插线区，所述插线区上安装若干条1A的电线，所述电线连接到pin脚插座上。


2.根据权利要求1所述的一种用于射频功放芯片测试机的大电流供电接口结构，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡信伟，
申请(专利权)人：南京派格测控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32