【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磁性测量领域，具体涉及一种硅钢磁性能测量用磁导计。
技术介绍
硅钢片的磁特性参数主要有磁通密度、磁导率、矫顽力、铁损等参数，通常利用爱泼斯坦方圈或磁导计作为励磁机构进行测量。由于爱泼斯坦方圈的样品制作复杂，并且测量成本高，已经逐渐被磁导计所替代。现有技术中磁导计的包括上U型磁轭，下U型磁轭，线圈以及骨架，其中线圈包括励磁线圈和测量线圈，线圈被绕制在骨架上。磁特性测量时，待测试样放置于上、下U型磁轭之间，并穿过均匀分布的线圈，励磁电源对励磁线圈供电，通过对测量线圈测量即可获得待测试样的磁特性以及铁损等参数。现有技术中单片硅钢的磁特性测量，是将待测试样插入线圈，手动闭合上、下U型磁轭，然后进行测量；测量结束后，通过手工取出待测试样后进行下一个试样的测量。这种手工操作的测量过程不但麻烦、影响测量效率，而且还存在很多缺陷，比如为了减小测量的误差，磁特性测量中要求上、下U型磁轭闭合，并与待测试样压紧以形成闭合磁路，并且要求加在待测试样上的压力为100～200牛顿之间。如果上述压力太小，会导致磁轭之间闭合不紧密；压力太大，则试样的形变过大，并且过大的压力会对...
【技术保护点】
一种磁导计，包括上磁轭，下磁轭，线圈，励磁电源，其中，线圈包括励磁线圈和测量线圈，励磁电源为励磁线圈供电，其特征在于，该磁导计还包括压力传感器和驱动电机，其中，所述的上、下磁轭中的一个磁轭通过压力传感器与驱动电机相连，另一磁轭固定；压力传感器，用于采集其上的压力数据，并将该压力数据传至驱动电机；驱动电机，用于在待测试样插入线圈后，控制所述一个磁轭向所述另一磁轭移动，使得两个磁轭闭合并压紧待测试样；采集所述的压力数据，当压力到达预先设定的门限时，停止所述磁轭的移动；在测量结束时，控制所述一个磁轭远离另一磁轭，使得两个磁轭分开。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：方岱宁，饶国光，
申请(专利权)人：北京赛迪机电新技术开发公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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