【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光电子能谱分析装置,特别是涉及一种以准连续或连续激光为光源的自旋分辨光电子能谱分析装置。
技术介绍
材料的磁学性质是由内部电子的自旋状态决定的。对电子自旋的研究不仅具有重大的科学意义,更与新兴的自旋流和自旋电子学在信息领域的应用密切相关。自旋分辨光电子能谱作为探测材料中电子自旋状态的最直接的实验手段,无论对自旋电子学材料的探索,还是对量子自旋流现象和先进材料中众多的新奇量子现象相关的物理研究,都具有重要的意义。自旋分辨光电子能谱仪的工作原理是当光辐照到样品上时,由于光电效应,电子将从样品中逸出。这些光电子经过电子能量分析器和莫特自旋探测器后,将获得能量、动量和自旋的信息。光电子相对于样品的空间角度,决定了电子的动量信息;光电子通过高电压加速,轰击散射靶。由于散射靶采用的是高原子序数的重金属,具有强的自旋轨道耦合,因此不同取向的电子将倾向于进入不同的电子放大倍增管而被接收到,从而获取了自旋的信息。长期以来,由于自旋分辨光电子能谱采用的莫特分析器(Mott Polarimeter)效率很低,测量的信号强度与通常的光电子能谱相比要弱104~105倍 ...
【技术保护点】
一种准连续或连续激光自旋分辨光电子能谱分析装置,包括真空室,真空室内部有用于固定操纵样品的样品台和设置在所述样品台一侧的电子能量分析器和自旋探测器;其特征是,还包括一激光器设置在所述真空室的激光入口处,激光器发出的激光经过所述入口入射到真空室内并入射到样品台上的样品上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:周兴江,陈创天,许祖彦,刘国东,朱镛,王桂玲,张国春,张鸿博,王晓阳,周勇,张文涛,刘海云,赵林,孟建桥,董晓莉,
申请(专利权)人:中国科学院物理研究所,中国科学院理化技术研究所,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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