电磁场分布测定方法及其装置和计算机程序及信息记录媒体制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够测定考虑到测定值的时间变化的电磁场分布的电磁场分布测定方法及其装置和计算机程序及信息记录媒体。为了测定被测定物体１的附近的电磁场分布，使用电磁场分布测定装置２，一面在被测定物体１的附近空间的规定测定面内使探头３对任意的测定坐标进行扫描，一面在测定面内的多个测定坐标的各坐标中检测出规定时间的信号，根据探头３所在位置的测定坐标及探头的检测信号，在连续规定时间内用信号时间波形运算单元１２计算出测定面内的各测定坐标的电场及磁场的强度，根据计算的强度，计算出被测定物体１的附近位置的各测定坐标的规定时间内的振幅概率分布，作为电磁场分布，利用电磁场分布显示单元１６以图形显示该分布。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及对由于来自被测定物体的电磁场发射而形成的电磁场分布进行测定的电磁场分布测定方法及其装置和计算机程序及信息记录媒体。
技术介绍
以往，作为EMI(Electro Magnetic Interference，电磁干扰)的解决方法，是对电子设备发射的电磁波产生的电磁场进行强度测定，作为进行该电磁场强度测定的方法，规定了以下所示的方法。例如，将成为测定对象的电子设备、即被测定物体(试验设备)设置在开放空间中，在相距该被测定物体3m到10m等的距离设置环形天线或偶极天线，进行测定。在这样将天线相距被测定物体隔开足够的距离设置时，在环形天线中仅能够测定远方发射电磁场的磁场分量，在偶极天线中仅能够测定电场分量。然后，若测定远方发射电磁场的一个分量，则能够算出另一分量。另外，还规定了一种方法，即不是在开放空间，而是在电波暗室中进行测量。另外，也有时要确定被测定物体中的电磁场的发射源。例如，有的情况下要确定电路基板上从哪个部位发射强电磁波。在这样的情况下，与前述的测定不同，是在被测定物体的附近测定电磁场强度。一般，使小型环形天线接近被测定物体，来测定电磁场的磁场分量。即，利用电磁耦合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁场分布测定方法，利用探头检测出成为电磁波发射源的被测定物体的附近空间中的电场及／或磁场的强度，来测定所述被测定物体的附近的电磁场分布，其特征在于，进行以下步骤：　　　　　在所述被测定物体的附近空间的任意测定位置将所述探头进行扫描、并在多个测定位置在连续的规定的测定时间内检测所述强度的检测步骤；以及　　　　计算出所述被测定物体的包含所述测定时间内的时间变化信息的所述强度的分布的分布计算步骤。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：风间智，堀圭吾，茑茑谷洋，
申请(专利权)人：太阳诱电株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]