【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电子器件处理装置和确定不良端子的方法，利用它们可以检测出IC器件的焊球和引脚的排列位置的缺失或偏差。
技术介绍
在IC器件等电子器件的制造过程中，电子器件测试装置被用于测试最终制造的电子器件的性能和功能。作为现有技术的一个例子，一个电子器件测试装置配有用于对电子器件进行测试的测试部分、用于将测试前的IC器件发送到测试部分的装载部分以及用于从测试部分中取出测试后的IC器件并对它们进行分类的卸载部分。装载部分设有能够在装载部分和测试部分之间来回移动的缓冲平台，还设有能够在从客户盘到加热板以及从加热板到缓冲平台的范围内移动的装载部分传送装置，在该装载部分传送装置中设有用于拾取和保持IC器件的吸着部分。另外，测试部分设有能够拾取和保持IC器件并压向测试头的插口的触臂以及能够在测试部分的范围内移动的测试部分传送装置。在装载部分传送装置中，盛在客户盘上的IC器件由吸着部分拾取保持并装载到加热板上，然后，在加热板上被加热到规定温度的IC器件再次由吸着部分拾取保持并装载到缓冲平台上。然后，载有IC器件的缓冲平台从装载部分移动到测试部分一侧。接着，测试部分传送装置...
【技术保护点】
一种电子器件处理装置，用于将电子器件传送到接触部分并使其与该接触部分接触，以便测试该电子器件的电学属性，所述电子器件处理装置包括：用于存储作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息的存储设备；用于给待测试电子器件的端子拍照的图像拍摄装置；用于从由所述图像拍摄装置拍摄的待测试电子器件的端子的图像数据中获得各个端子的位置信息的端子位置信息获取装置；和不良端子确定装置，该装置通过从所述存储设备中读取作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息，并将读出的各个端子的标准位置信息与由所述端子位置信息获取装置获得的待测试电子器件的各个端子的位置信息进行比较，从而确定待测试电子器件的端子的...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
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