可测试电子电路及其测试方法和测试器技术

技术编号:2630192 阅读:133 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种电子电路,包括:连接到电路的数据端(11a-c)、以及连接到功能电路(10)的触发器组(12a-c)。每一个组(12a-c)都具有用于对该组中的触发器提供时钟的时钟输入端。每一个组(12a-c)都可以在移位配置和功能配置之间切换,以便串行地从数据端移入测试数据,而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号。测试控制电路(16)可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换。测试控制电路(16)连接到触发器组(12a-c),以在功能模式下将该组切换到功能配置,以及在测试移位模式下将该组切换到移位配置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电子电路,具体涉及一种包括多个时钟域的可测 试集成电路。本专利技术还涉及一种用于对这种电子电路进行测试的方法 以及用于对这种电子电路进行测试的测试器装置。
技术介绍
美国专利号6, 131, 173公开了一种包括多个时钟域的可测试集 成电路。随着当今集成电路大小的增大,将集成电路的功能电路分成 不同的时钟域己经变得必要。在正常操作期间,这种集成电路使用多 个部分上或全部独立的时钟信号,以控制不同时钟域内的电路操作。 典型地,集成电路包括多个内部时钟电路,以便在内部产生大部分的 不同时钟信号。例如,典型的时钟电路可以包括振荡器电路或PLL电 路,以便产生例如锁定到基准信号的时钟信号。不同时钟域的使用使得对集成电路的测试更加困难。不同时钟信 号(尤其是内部产生的时钟信号)的同时操作可以导致不可预知的相 对时序,而这又会导致不可预知的测试结果。针对这个问题,已经设计出多种解决方案。例如,US 6, 131, 173公开了如何使用时钟域隔离电路将不同时钟域的功能电路相互隔 离,以避免不可预知的测试结果。其他解决方案包括在整个电路中 使用测试模式下的特殊测试时钟信号,或者使本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可测试电子电路,包括-多个数据端(11a-c);-功能电路(10);-多个触发器组(12a-c),连接到数据端(11a-c)以及功能电路(10),每个触发器组具有用于向该组(12a-c)的触发器提供时钟的时钟输入端,每个组可在移位配置和功能配置之间进行切换,以从数据端(11a-c)串行地移入测试数据,而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号;-测试控制电路(16),可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换,所述测试控制电路(11)连接到触发器组(12a-c),以在功能模式下将所述组切换到功能配置,以及在测试移位模式下将所述组切换到移位配置...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:埃尔韦弗勒里让马克延努
申请(专利权)人:NXP股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1