电磁波场强测量数据仿真方法技术

一种电磁波场强测量数据仿真方法，应用于第一半电波暗室（小的测量房间）的测试仪器。此仿真方法特征在第一半电波暗室测量待测物的场强时，根据标准信号源在第一半电波暗室与第二半电波暗室（较大的测量房间）所测量的场强数据的差值，仿真产生待测物在第二半电波暗室的场强数据。因为此仿真方法所产生的仿真数据相当准确，所以可以改善测试电磁兼容性的效率和准确度，进而节省费用和时间。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量数据仿真方法，且特别涉及一种电磁波场强测量数据 仿真方法。
技术介绍
迄今为止，如移动电话等射频(radio frequency)产品发展非常迅速。由于 频谱为有限的资源，射频产品的电磁波强度必须符合电磁兼容性 (electromagnetic compatibility, EMC)规定，才不致造成电磁波干,尤 (electromagnetic interference, EMI)。相关测量EMC的方法是根据国际电 工委员会(International Electrotechnicai Commission， IEC)的CISPR战文 Comit6 international sp6cial des perturbations radio6lectriques的縮写) 所公布的规范作为参考依据。目前业界是根据CISPR22规范作电磁波的场强测量。CISPR22规范制订了信 息科技设备的电磁波干扰特性的测量限制与方法。此规范中说明远场测试标准 是在距离受测物10米处，测量受测物的电磁波场强值。并且测量的实验室环境 是半电波暗室(semi-anechoic chamber)。所谓半电波暗室是长方体测量房间， 且在测量房间内部的六面当中，只有地面铺上金属板，其余五个面装设吸波体。 此半电波暗室内只有地面能反射电磁波，用来测量电磁波的场强，例如测量手 机辐射。问题在于，IO米的半电波暗室成本较高，业界的厂商未必有意愿自行设置， 或因为自行设置的半电波暗室较小(例如只有3米)而不符需求。若不自行设 置，就必须前往具有合格的10米半电波暗室的场所作外出测试，因此耗费额外 的时间与成本。根据CISPR22的理论公式，在距离3米测量的电磁波场强减少10分贝(dB 或decibel)会等于在距离IO米所测量到的电磁波场强。依照这个理论，可以用3米半电波暗室的测量数据来仿真产生10米半电波暗室的场强数据。但实际 上若分别在3米和10米的半电波暗室作实验，此理论公式在某些频率并不会成 立。这是由于半电波暗室内，还有地面的金属板会反射电磁波，然而CISPR22 并未考虑地面反射的电磁波。由于这个差异，上述的IO分贝调整方法并不可行， 所以业界普遍是以距离10米的半电波暗室，来测量受测物的电磁波场强值。如 上所述，即使已设置较小的半电波暗室，仍然要负担外出测试的时间与成本。
技术实现思路
本专利技术提供一种，可在测量待测物在第一半 电波暗室的电磁波场强时，模拟出此待测物在第二半电波暗室的场强数据。因 此可用较小的半电波暗室模拟产生较大的半电波暗室的场强数据，节省外出测 试的时间与成本。本专利技术提供一种，应用在第一半电波暗室的测试仪器。此数据仿真方法的特征在于在测量待测物在第一半电波暗室的场 强数据时，根据标准信号源在第一半电波暗室与第二半电波暗室所测量的场强 数据的差值，仿真产生待测物在第二半电波暗室的场强数据。依照本专利技术的较佳实施例所述的，上述的差 值为第一数据组与第二数据组的差值。其中，第一数据组是在预设频段中，每 隔预设频率测量标准信号源在第一半电波暗室的场强数据而取得。第二数据组 是在预设频段中，每隔预设频率测量标准信号源在第二半电波暗室的场强数据 而取得。在较佳实施例中，标准信号源为脉冲信号发生器。第一半电波暗室的 天线与标准信号源之间的距离为第一预设距离。第一半电波暗室的天线与待测物之间的距离亦为第一预设距离，第二半电波暗室的天线与标准信号源之间的 距离则为第二预设距离。在测量场强数据时，测试仪器经由传输线耦接天线， 天线接收标准信号源或待测物发出的电磁波，并产生信号。传输线传递信号至 测试仪器。而且测试仪器根据信号与传输线的信号衰减量，据以计算标准信号 源或待测物在第一半电波暗室的场强数据。在测量待测物在第一半电波暗室的 场强数据时，根据上述差值调整传输线的信号衰减量，以模拟产生待测物在第 二半电波暗室的场强数据。上述的，在本专利技术另一实施例中，测试仪器 依序经由前置放大器与传输线耦接天线。天线接收标准信号源或待测物发出的 电磁波，并产生信号。传输线传递信号。前置放大器放大该信号。而且测试仪 器根据信号与传输线的信号衰减量，据以计算标准信号源或待测物的第一半电 波暗室的场强数据。接着，在测量待测物在第一半电波暗室的场强数据时，根 据差值调整传输线的信号衰减量，以模拟产生待测物在第二半电波暗室的场强、W - f.门数据。本专利技术的数据仿真方法是在第一半电波暗室测量待测物的电磁波场强时， 利用标准信号源在第一和第二半电波暗室的场强数据差值，调整传输线的信号 衰减量(此为测试仪器的系统参数之一)，以模拟出此待测物在第二半电波暗室 的场强数据。如此，不需要在第二半电波暗室实地测量，即可取得第二半电波 暗室的场强数据。也就是说，可利用较小的半电波暗室取得较大的半电波暗室 的场强数据，进而节省外出测量的费用和时间，也能省下建置第二半电波暗室 的成本。为让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本发 明的较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。附图说明图1为标准信号源的电磁波场强测量数据图。图2为本专利技术一实施例的电磁波场强测量仿真系统图。图3为本专利技术另一实施例的电磁波场强测量仿真系统图。图4为本专利技术另一实施例的的流程图。图5为本专利技术另一实施例的待测物在10米的半电波暗室的仿真场强数据与 实际测量数据的差异曲线图。主要元件标记说明 200、 300:测量仿真系统 201:天线 202:传输线203:前置放大器 204:测试仪器 211:待测物 221:电磁波S40广S417:电磁波场强测量数据仿真步骤具体实施方式图1为标准信号源的电磁波场强测量数据图。请参照图1，图上的二条曲线分别是在预设距离3米的第一半电波暗室与预设距离10米的第二半电波暗室进 行电磁波场强测量的结果。利用标准信号源作为发射源，在多个发射频率进行 测量。如图1所示，发射频段为30兆赫(MHz)至l吉赫(GHz)的范围，且每次发 射的频率间隔预设频率5 MHz。图l的测量电磁波的场强单位为dBiiV/m。在经 过一连串的发射电磁波的调整与测量之后，得到两组场强数据。在第一半电波 暗室与第二半电波暗室分别得到第一数据组与第二数据组。值得注意的是在图1 所示的圆圈中，100到300兆赫频段，两数据组之间的场强差值都没有达到10dB。 这个现象是半电波暗室的地面反射波所导致，也是不能单纯套用IO分贝调整方 法的原因。如图1所示的标准信号源的两组测量数据的差值，就是本专利技术的重 点。图2为本专利技术一实施例的电磁波场强测量仿真系统示意图。测量仿真系统 200位在3米的第一半电波暗室，包括了天线201、传输线202、以及测试仪器 204。天线201接收到待测物211 (例如业界所开发的新款手机)所发出的电磁 波221之后，会产生对应的信号。此信号经由传输线202的传递，由测试仪器 204所接收。此时可用公知技术使测试仪器204计算出待测物在第一半电波暗室 的场强测量数据，或用本实施例的方法(细节后述)加以调整，使测试仪器204 仿真产生出待测物在IO米的第二半电波暗室的场强测量数据。其中，天线201 可以使用水平极化的接收天线，或者是垂直极化本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁波场强测量数据仿真方法，应用于第一半电波暗室的测试仪器，其特征在于：在测量待测物在该第一半电波暗室的场强数据时，根据标准信号源在该第一半电波暗室与第二半电波暗室所测量的场强数据的差值，仿真产生该待测物在该第二半电波暗室的场强数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄茂家，王静，杨志飞，
申请(专利权)人：英华达上海科技有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]