在标准化的测试仪器底盘内提供精确的定时控制制造技术

通过在ＰＸＩ＿ＬＯＣＡＬ上提供若干控制信号而获得例如ＰＸＩ等标准化底盘内的精确定时控制。最小公倍数（Ｌｅａｓｔ　Ｃｏｍｍｏｎ　Ｍｕｌｔｉｐｌｅ，ＬＣＭ）信号使得所有时钟能够具有在每个ＬＣＭ边沿出现的一致的时钟边沿。启动序列允许测试系统中的所有ＰＸＩ扩展卡同时启动。ＭＡＴＣＨ线路使得引脚卡模块能够检验预期的ＤＵＴ输出，并根据所述ＤＵＴ输出检验的结果继续执行它们的局部测试程序或环回并重复所述局部测试程序的一部分。测试结束（Ｅｎｄ　Ｏｆ　Ｔｅｓｔ，ＥＯＴ）线路使得如果任一引脚卡模块中的局部测试程序检测到错误，则所述引脚卡模块便能够突然结束在所有其它引脚卡模块中运行的局部测试程序。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于测试例如集成电路(integrated circuit, IC )等半导 体装置的测试系统，且更确切地说，涉及在标准化的测试仪器底盘内提供 现有技术的自动测试设备(Automatic Test Equipment, ATE )系统所需的精 确的定时控制，所述仪器底盘例如是仪器外围组件互连(Peripheral Component Interconnect, PCI)扩展(PXI)底盘。
技术介绍
常规的现有技术ATE测试系统的高成本的主要原因在于ATE测试器结 构的专门且复杂的性质。ATE测试器制造商通常采用若干ATE测试器平台， 所述平台不但在厂家间不兼容，而且在平台间也不兼容。因为这些不兼容 性，每个ATE测试器可能需要其自身专门的硬件模块和软件组件，所述硬 件模块和软件组件无法用在其它ATE测试器上。这个专门的硬件和软件开 发起来较昂贵且利用起来既耗时又困难。组装、编程和操作这些测试器的 人员通常需要在短时间内掌握大量知识。因为常规ATE测试器结构的专用(dedicated)性质，所以所有硬件和软件 必须针对给定的ATE测试器保持成固定配置。为了测试一种本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于在多个电路卡之间提供精确的定时控制的系统，其特征在于其包括：　　　　底盘，所述底盘具有标准化规范，所述底盘包含与规范兼容的插槽和底板，以用于在耦合到所述插槽的多个电路卡之间提供电连接；　　　　与规范兼容的星形触发卡，其可耦合到所述插槽中的一者，以用于分别在预先存在的与规范兼容的匹配长度的参考时钟迹线以及所述底板上的根据所述规范可由用户配置的总线上，向耦合到所述底盘中的其它插槽的其它与规范兼容的电路卡提供一参考时钟和非规范控制信号；以及　　　　一个或一个以上的与规范兼容的电路卡，其可耦合到所述底盘中的插槽，以用于大约同时接收所述参考时钟和所述非规范控制信号，并根据所述参考时钟和控制信号而...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：安夫尼里，葛岚戈麦斯，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]