磁场检测装置制造方法及图纸

技术编号:2628066 阅读:286 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
磁场检测装置被提供有:磁场检测单元,响应于输入信号的电位电平而被通电,输出响应于外围磁场而具有彼此不同的电位电平的两个信号中的任一个;通电控制单元,其产生周期性的通电控制信号,该通电控制信号指示通过采用时钟信号及通过对时钟信号进行分频或频率倍增而获得的另一个信号来通电该磁场检测单元的定时,并将通电控制信号提供给磁场检测单元;第一反相单元,将该磁场检测单元的输出信号的电位电平反相;以及通电时间周期控制单元,向该通电控制单元提供时间周期控制信号,时间周期控制信号响应于磁场检测单元的输出信号的电位电平及通过由第一反相单元将该输出信号的电位电平反相而获得的信号的电位电平,来控制该通电控制信号的时间周期。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用于间歇地检测磁场的磁场检测装置,并且还涉及包含上述 磁场检测装置的电子设备。
技术介绍
作为磁场检测装置的 一种,已经出现了使用霍尔效应元件的霍尔(Hall)IC。并且,在这些霍尔IC中,存在为了实现低功耗而配备有间歇驱动 功能的某些霍尔IC(参见非专利出版物1)。图16是示出配备有间歇驱动功能的霍尔IC IO的框图。如图16所示, 为霍尔IC IO提供有电源端子11、 GND端子13、输出端子15、振荡器101、 控制逻辑电路103、磁场检测电路105、以及输出反相器电路113。在输出反 相器电路113中,NMOS 109和PMOS 111已经相互串联连接。NMOS 109 的栅极和PMOS 111的栅极已经相互公共连接,以构成公共栅极,并且,磁 场检测电路105的输出已经连接到该公共栅极。输出端子15已经连接到 NMOS 109和PMOS 111的公共漏极。图17(a)是示出霍尔IC10的外围部分的磁通密度"B"的图;图17(b)是 代表从振荡器101输出的时钟信号的图;图17(c)是指示控制逻辑电路103的 输出信号的图;并且,图17(d)是示出从输出端子15本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁场检测装置,包括: 磁场检测单元,其响应于输入信号的电位电平而被通电,并且,响应于外围磁场而输出具有彼此不同的电位电平的两个信号中的任一个; 通电控制单元,其产生周期性的通电控制信号,该通电控制信号指示通过采用时钟信号、以及通过对所述时钟信号进行分频或频率倍增而获得的另一个信号来通电所述磁场检测单元的定时,所述通电控制单元将所产生的通电控制信号提供给所述磁场检测单元; 第一反相单元,其将所述磁场检测单元的输出信号的电位电平反相;以及 通电时间周期控制单元,其向所述通电控制单元提供时间周期控制信号,所述时间周期控制信号响应于所述磁场检测单元的输出信号的电位电平、以及通过由所述第一反相单元将...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:富田卓哉畑中忠太政井茂雄
申请(专利权)人:松下电器产业株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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