基于微带天线的磁场探测器及系统技术方案

本发明专利技术涉及基于微带天线的磁场探测器及系统，具体而言，涉及磁场探测领域。该磁场探测器的辐射贴片上挖设有第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽均平行于辐射贴片的一条边，且第一凹槽和第二凹槽在与之平行的边上的投影位置不同，第一凹槽和第二凹槽内填充有磁致伸缩材料，辐射贴片和接地板的材料为金属良导体材料。由于第一凹槽和第二凹槽中的磁致伸缩材料在磁场的作用下产生形变，进而引发该辐射贴片产生形变，从而使得该辐射贴片、介质基片和接地板形成的微带天线的有效电流长度改变，进而改变该微带天线的谐振频率的变化情况，通过获取该微带天线谐振频率变化情况与该谐振频率变化情况与磁场强度的对应关系，得到该待测磁场的磁场强度。

【技术实现步骤摘要】
基于微带天线的磁场探测器及系统
本专利技术涉及磁场探测领域，具体而言，涉及一种基于微带天线的磁场探测器及系统。
技术介绍
磁性是物质的基本属性之一，测量磁性物体的磁场，经过信号分析处理提取相关信息，可以达到目标探测、资源调查等目的，磁场探测是现代探测技术的重要组成部分。磁场探测技术被广泛应用于空间科学研究、海洋监测、地下和水下铁磁物体的探测、地震预测、地磁匹配导航、飞机发动机零部件无损检测以及医学核磁共振等各个领域。磁场探测器多种多样，测量原理千差万别，如磁阻效应、Zeeman效应、Josephson效应、霍尔效应等。然而，现有技术中的磁场探测器灵敏度低，测量精度较低，并且尺寸大，制作和维修成本高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于微带天线的磁场探测器及系统，以解决现有技术中的磁场探测器灵敏度低，测量精度较低，并且尺寸大，制作和维修成本的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：第一方面，本申请提供一种基于微带天线的磁场探测器，磁场探测器包括：辐射贴片、介质基片和接地板；介质基片设置在接地板的一侧，辐射贴片设置在介质基片远离接地板的一侧，辐射贴片上挖设有第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽均平行于辐射贴片的一条边，且第一凹槽和第二凹槽在与之平行的边上的投影位置不同，第一凹槽和第二凹槽内填充有磁致伸缩材料，其中，辐射贴片和接地板的材料为金属良导体材料。可选地，该介质基片的材料为绝缘材料。可选地，该介质基片的材料为二氧化硅、氧化铝中的任意一种。可选地，该辐射贴片和接地板的材料为银、铜、中的至少一种。可选地，该磁致伸缩材料为铁钴、铁镍中的至少一种。可选地，该第一凹槽和第二凹槽为矩形。可选地，该第一凹槽和第二凹槽面积相等。可选地，该第一凹槽和第二凹槽面积不相等。可选地，该第一凹槽和第二凹槽均包括延伸槽，第一凹槽的延伸槽设置在靠近第二凹槽的一端，第二凹槽的延伸槽设置在靠近第一凹槽的一端。第二方面，本申请提供一种基于微带天线的磁场探测系统，磁场探测系统包括：矢量网络分析仪和第一方面任意一项的磁场探测器，矢量网络分析仪与磁场探测器通信连接，用于检测磁场探测器的频谱。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的基于微带天线的磁场探测器，磁场探测器包括：辐射贴片、介质基片和接地板；介质基片设置在接地板的一侧，辐射贴片设置在介质基片远离接地板的一侧，辐射贴片上挖设有第一凹槽和第二凹槽，第一凹槽和第二凹槽均平行于辐射贴片的一条边，且第一凹槽和第二凹槽在与之平行的边上的投影位置不同，第一凹槽和第二凹槽内填充有磁致伸缩材料，其中，辐射贴片和接地板的材料为金属良导体材料。当使用该磁场探测器对待测磁场进行测量的时候，由于第一凹槽和第二凹槽中的磁致伸缩材料在磁场的作用下产生形变，进而引发该辐射贴片产生形变，从而使得该辐射贴片、介质基片和接地板形成的微带天线的有效电流长度改变，进而改变该微带天线的谐振频率的变化情况，通过获取该微带天线谐振频率变化情况与该谐振频率变化情况与磁场强度的对应关系，得到该待测磁场的磁场强度。由于本申请的磁场探测器将磁场的测量转化为微带天线谐振频率的变化情况，并且现有技术对位微带天线的谐振频率的精度和灵敏度较高，则相应的，本申请的磁场探测器测量磁场的灵敏度较高，测量精度较高，且微带天线尺寸较小，结构简单，使得制作和维修成本均较低。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术一实施例提供的一种基于微带天线的磁场探测器的结构示意图；图2为本专利技术一实施例提供的一种基于微带天线的磁场探测器的辐射贴片的示意图；图3为本专利技术一实施例提供的另外一种基于微带天线的磁场探测器的辐射贴片的示意图。图标：1-辐射贴片；11-第一凹槽；12-第二凹槽；2-介质基片；3-接地板。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一金属板实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。为了使本专利技术的实施过程更加清楚，下面将会结合附图进行详细说明。实施例1图1为本专利技术一实施例提供的一种基于微带天线的磁场探测器的结构示意图；图2为本专利技术一实施例提供的一种基于微带天线的磁场探测器的辐射贴片的示意图；如图1和图2所示，第一方面，本专利技术提供了一种基于微带天线的磁场探测器，磁场探测器包括：辐射贴片1、介质基片2和接地板3；介质基片2设置在接地板3的一侧，辐射贴片1设置在介质基片2远离接地板3的一侧，辐射贴片1上挖设有第一凹槽11和第二凹槽12，第一凹槽11和第二凹槽12均平行于辐射贴片1的一条边，且第一凹槽11和第二凹槽12在与之平行的边上的投影位置不同，第一凹槽11和第二凹槽12内填充有磁致伸缩材料，其中，辐射贴片1和接地板3的材料为金属良导体材料。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于微带天线的磁场探测器，其特征在于，所述磁场探测器包括：辐射贴片、介质基片和接地板；所述介质基片设置在所述接地板的一侧，所述辐射贴片设置在所述介质基片远离所述接地板的一侧，所述辐射贴片上挖设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和所述第二凹槽均平行于所述辐射贴片的一条边，且所述第一凹槽和所述第二凹槽在与之平行的边上的投影位置不同，所述第一凹槽和所述第二凹槽内填充有磁致伸缩材料，其中，所述辐射贴片和所述接地板的材料为金属良导体材料。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于微带天线的磁场探测器，其特征在于，所述磁场探测器包括：辐射贴片、介质基片和接地板；所述介质基片设置在所述接地板的一侧，所述辐射贴片设置在所述介质基片远离所述接地板的一侧，所述辐射贴片上挖设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽和所述第二凹槽均平行于所述辐射贴片的一条边，且所述第一凹槽和所述第二凹槽在与之平行的边上的投影位置不同，所述第一凹槽和所述第二凹槽内填充有磁致伸缩材料，其中，所述辐射贴片和所述接地板的材料为金属良导体材料。


2.根据权利要求1所述的基于微带天线的磁场探测器，其特征在于，所述介质基片的材料为绝缘材料。


3.根据权利要求2所述的基于微带天线的磁场探测器，其特征在于，所述介质基片的材料为二氧化硅和氧化铝中的任意一种。


4.根据权利要求1所述的基于微带天线的磁场探测器，其特征在于，所述辐射贴片和所述接地板的材料为银和铜中的至少一种。


5.根据权利要求1所述的基于微带天线的磁场...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：中山科立特光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44