【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查装置相关申请的交叉引用本国际申请要求2017年6月16日在日本专利局提交的日本专利技术专利申请第2017-118775号的优先权，所述日本专利技术专利申请的全部内容通过引用而并入本文。
本公开涉及检查成型品中的成型不良部位的检查装置。
技术介绍
以往，通过目视或手动操作测量仪器对利用冲压加工或注射成型等成型加工生产的成型品是否存在成型不良部位进行检查。在此所述的成型不良部位是符合包括在成型的过程中产生的瑕疵、压痕、部分缺损、毛刺、裂纹、浮渣、以及镀层剥落等在内的成型不良的部位。目视或手动操作测量仪器进行检查的方法在检查一个成型品时需要较长的时间。因此，对于大量生产的成型品，有时无法接受进行全数检查所需的时间和成本。在无法接受进行全数检查所需的时间或成本的情况下，只能采用从全部总量中抽取一部分进行检查的抽样检查。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2015-114309号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题此外，作为以高速且以高精度地测量对...
【技术保护点】
1.一种检查装置，其特征在于，具有：/n至少一个照射部，所述至少一个照射部构成为，对规定的拍摄范围投影指定的光学图案；/n至少一个拍摄部，所述至少一个拍摄部构成为对图像进行拍摄，该图像包含对处在所述拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案；/n测量部，所述测量部构成为，基于所述拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量所述检查对象物的三维表面形状；/n比较检测部，所述比较检测部构成为，对所述测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照，其中，所述给定的基准形状数据表示与所述检查对象物相对应的合格品的三维表面形状，并且所述比较检测部构成为，检测出所述检查对...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170616 JP 2017-1187751.一种检查装置，其特征在于，具有：
至少一个照射部，所述至少一个照射部构成为，对规定的拍摄范围投影指定的光学图案；
至少一个拍摄部，所述至少一个拍摄部构成为对图像进行拍摄，该图像包含对处在所述拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案；
测量部，所述测量部构成为，基于所述拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量所述检查对象物的三维表面形状；
比较检测部，所述比较检测部构成为，对所述测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照，其中，所述给定的基准形状数据表示与所述检查对象物相对应的合格品的三维表面形状，并且所述比较检测部构成为，检测出所述检查对象物的三维表面形状中被识别出显示形状与所述合格品的三维表面形状不同的部位，并将该部位连同该形状的尺寸一起作为成型不良部位候选；以及
不良确定部，所述不良确定部构成为，仅将所述比较检测部检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在规定的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位，其中，所述规定的判定基准值表示成型不良部位的基准。
2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，
所述检查装置构成为，使用者能够任意地设定和更改所述判定基准值，
所述不良确定部构成为，利用由使用者任意设定和更改的判定基准值来确定成型不良部位。
3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，
所述检查装置构成为，能够对将所述基准形状数据所表示的三维表面形状进行分割而形成的多个区域中的每个区域分别设定所述判定基准值，
所述不良确定部构成为，使用与所述比较检测部所检测到的成型不良部位候选的位置相对应的区域的判定基准值来确定成型不良部位。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，
具有表示分区编号的信息，其中，所述分区编号是分配给以规定的间隔对所述基准形状数据所表示的三维表面形状进行划分而形成的每个分区的编号，
所述检查装置还具有输出部，所述输出部构成为，使表示由所述不良确定部所确定的成型不良部位的信息和该成型不良部位的位置所对应的分区的分区编号建立对应并进行输出。
5.根据权利要求4所述的检查装置，其特征在于，
所述输出部构成为，在所述检查对象物上标记记号，该记号表示由所述不良确定部所确定的成型不良部位的内容以及与该成型不良部位的位置相对应的分区编号。
6.根据权利要求1～5中任一项所述的检查装置，其特征在于，
所述检查装置还具有光泽测量部、划痕确定部、以及警报输出部，
所述光泽测...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。