检查装置制造方法及图纸

技术编号:26227987 阅读:21 留言:0更新日期:2020-11-04 11:09
一种控制装置,其基于由拍摄部投影指定的光学图案并进行拍摄而获得的工件的图像对工件的三维表面形状进行测量。控制装置对所测量到的工件的三维表面形状和表示与工件相对应的合格品的三维表面形状的基准形状数据进行对照,并检测出工件中被识出显示形状与合格品的三维表面形状不同的部位,以作为成型不良部位候选。控制装置仅将检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在表示成型不良部位基准的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查装置相关申请的交叉引用本国际申请要求2017年6月16日在日本专利局提交的日本专利技术专利申请第2017-118775号的优先权,所述日本专利技术专利申请的全部内容通过引用而并入本文。
本公开涉及检查成型品中的成型不良部位的检查装置。
技术介绍
以往,通过目视或手动操作测量仪器对利用冲压加工或注射成型等成型加工生产的成型品是否存在成型不良部位进行检查。在此所述的成型不良部位是符合包括在成型的过程中产生的瑕疵、压痕、部分缺损、毛刺、裂纹、浮渣、以及镀层剥落等在内的成型不良的部位。目视或手动操作测量仪器进行检查的方法在检查一个成型品时需要较长的时间。因此,对于大量生产的成型品,有时无法接受进行全数检查所需的时间和成本。在无法接受进行全数检查所需的时间或成本的情况下,只能采用从全部总量中抽取一部分进行检查的抽样检查。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2015-114309号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题此外,作为以高速且以高精度地测量对象物的表面形状的方法,已知有例如专利文献1记载的三维图像测量方法。因此,专利技术人锐意进取开发了一种系统,该系统能够使用这种三维图像测量方法高速且以高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位,从而能够实现对大量生产的成型品进行全数检查。本公开的一个方面优选能够使用三维图像测量高速且以高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位。解决问题的技术方案本公开的一个方面的检查装置具有投影部、拍摄部、测量部、比较检测部、以及不良确定部。投影部构成为对规定的拍摄范围投影指定的光学图案。拍摄部构成为对图像进行拍摄,该图像包含对处在拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案。测量部构成为基于拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量检查对象物的三维表面形状。比较检测部对测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照,其中,给定的基准形状数据表示与检查对象物相对应的合格品的三维表面形状。并且,比较检测部构成为,检测出检查对象物的三维表面形状中被识别出显示形状与合格品的三维表面形状不同的部位,并将该部位连同该部位的形状尺寸一起作为成型不良部位候选。不良确定部构成为,仅将比较检测部检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在规定的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位,其中,规定的判定基准值表示成型不良部位的基准。根据本公开的检查装置,能够使用三维图像测量高速且高精度地检查成型品中是否存在成型不良部位。具体而言,本公开的检查装置能够通过对利用三维图像测量方法测量到的检查对象物的三维表面形状和表示合格品的三维表面形状的基准形状数据进行对照而检测出存在于检查对象物中的成型不良部位候选。并且,除上述构成之外,本公开的检查装置还构成为,仅将检测到的成型不良部位候选中尺寸在作为成型不良部位的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位。在三维图像测量中,例如在拍摄部所拍摄的图像的分辨率充分高的情况下,甚至连作为产品不会构成缺陷的微小瑕疵都可以检测到。然而,作为产品若将不会构成缺陷的微小瑕疵都全部被判定为成型不良部位则会导致作为检查而要求的品质过剩。因此,如上所述,通过从成型不良部位的对象中排除小于基准值的微小瑕疵,而能够确切地仅检测出具有作为产品会构成缺陷的大小的成型不良部位。此外,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置构成为,使用者能够任意地设定和更改判定基准值。并且,不良确定部构成为,利用由使用者任意设定和更改的判定基准值来确定成型不良部位。根据该构成,能够根据产品所要求的品质自由地更改成型不良部位的判定基准值,因此具有便捷性。此外,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置构成为,能够对将基准形状数据所表示的三维表面形状进行分割而形成的多个区域中的每个区域分别设定判定基准值。并且,不良确定部构成为,使用与比较检测部所检测到的成型不良部位候选的位置相对应的区域的判定基准值来确定成型不良部位。例如,对于因成型加工而使原材料变形成陡峭的形状的部位和平坦的表面,可以认为其各自的表面会产生的成型不良的性状是不同的。因此,根据如上所述的构成,能够对应于成型品的每个部位的形状设定适当的判定基准值,从而能够确切地检测到成型不良部位。此外,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置具有表示分区编号的信息,其中,该分区编号是分配给以规定的间隔对基准形状数据所表示的三维表面形状进行划分而形成的每个分区的编号。并且,输出部构成为,使表示由不良确定部所确定的成型不良部位的信息和该成型不良部位的位置所对应的分区的分区编号建立对应并进行输出。并且,该输出部可以构成为,在检查对象物上标记记号,该记号表示由不良确定部所确定的成型不良部位的种类以及与该成型不良部位的位置相对应的分区编号。根据该构成,能够易于在实际观察成型品时掌握成型不良部位,因此具有便捷性。此外,有时在利用模具加工而成的成型品的表面上会因与模具之间的摩擦而产生划痕。因模具而产生的划痕形成为例如呈现出比周边强的光泽的部位。对于这样的划痕,如果产品的形状没有问题,则通常不会作为成型不良部位来处理。不过,在较明显地显现出划痕的情况下,可以判断出已接近应对模具进行修正的时期,因此,优选能够与成型不良部位加以区别地检测出划痕。因此,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置还具有光泽测量部、划痕确定部、以及警报输出部。光泽测量部构成为,基于拍摄装置所拍摄到的图像来测量所述检查对象物的表面的光泽程度。划痕确定部构成为,基于测量部所测量到的三维表面形状以及光泽测量部所测量到的光泽程度的分布,将符合规定划痕判定基准的部位确定为划痕。警报输出部构成为,输出与划痕确定部所确定的划痕相关的警报。根据该构成,能够与成型不良部位加以区别地检测划痕,并能够确切地判断出模具的修正时期。此外,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置还可以具有配置在拍摄范围内的至少一个标准器。并且,测量部构成为,还对由拍摄装置连同检查对象物一起拍摄到的标准器的三维表面形状进行测量。并且,判定部构成为,对测量部所测量到的标准器的三维表面形状和表示与标准器相对应的正常的三维表面形状的给定的校对数据进行对照,并根据所述标准器的三维表面形状是否符合所述校对数据来判定与检查对象物相关的检查结果是否恰当。根据该构成,能够对针对每个的成型品进行的检查保证其检查结果的合理性,因此,能够提高对检查结果的可信性。此外,本公开的检查装置还可以构成如下。即,检查装置具有构成为对检查对象物的多个不同的部位分别进行拍摄的多个拍摄部。并且,测量部构成为,测量多个拍摄装置各自拍摄到的图像中的每个部位的三维表面形状。此外,比较检测部构成为,对测量部所测量到的每个部位的三维表面形状和为每个部位准备的基准形状数据进行对照,并检测出成型不良部位候选。根据该构成,能够对1台拍摄装置无法拍摄到整体的大型成型品、具有表面和背面的成型品、具有死角的呈复杂形状的成型品等一举进行检查,从而能够实现检查的高速化。此外本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检查装置,其特征在于,具有:/n至少一个照射部,所述至少一个照射部构成为,对规定的拍摄范围投影指定的光学图案;/n至少一个拍摄部,所述至少一个拍摄部构成为对图像进行拍摄,该图像包含对处在所述拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案;/n测量部,所述测量部构成为,基于所述拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量所述检查对象物的三维表面形状;/n比较检测部,所述比较检测部构成为,对所述测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照,其中,所述给定的基准形状数据表示与所述检查对象物相对应的合格品的三维表面形状,并且所述比较检测部构成为,检测出所述检查对象物的三维表面形状中被识别出显示形状与所述合格品的三维表面形状不同的部位,并将该部位连同该形状的尺寸一起作为成型不良部位候选;以及/n不良确定部,所述不良确定部构成为,仅将所述比较检测部检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在规定的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位,其中,所述规定的判定基准值表示成型不良部位的基准。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170616 JP 2017-1187751.一种检查装置,其特征在于,具有:
至少一个照射部,所述至少一个照射部构成为,对规定的拍摄范围投影指定的光学图案;
至少一个拍摄部,所述至少一个拍摄部构成为对图像进行拍摄,该图像包含对处在所述拍摄范围内的检查对象物进行投影而形成的光学图案;
测量部,所述测量部构成为,基于所述拍摄部所拍摄到的图像中所包含的光学图案来测量所述检查对象物的三维表面形状;
比较检测部,所述比较检测部构成为,对所述测量部所测量到的三维表面形状和给定的基准形状数据进行对照,其中,所述给定的基准形状数据表示与所述检查对象物相对应的合格品的三维表面形状,并且所述比较检测部构成为,检测出所述检查对象物的三维表面形状中被识别出显示形状与所述合格品的三维表面形状不同的部位,并将该部位连同该形状的尺寸一起作为成型不良部位候选;以及
不良确定部,所述不良确定部构成为,仅将所述比较检测部检测到的成型不良部位候选中的形状尺寸在规定的判定基准值以上的候选确定为成型不良部位,其中,所述规定的判定基准值表示成型不良部位的基准。


2.根据权利要求1所述的检查装置,其特征在于,
所述检查装置构成为,使用者能够任意地设定和更改所述判定基准值,
所述不良确定部构成为,利用由使用者任意设定和更改的判定基准值来确定成型不良部位。


3.根据权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于,
所述检查装置构成为,能够对将所述基准形状数据所表示的三维表面形状进行分割而形成的多个区域中的每个区域分别设定所述判定基准值,
所述不良确定部构成为,使用与所述比较检测部所检测到的成型不良部位候选的位置相对应的区域的判定基准值来确定成型不良部位。


4.根据权利要求1~3中任一项所述的检查装置,其特征在于,
具有表示分区编号的信息,其中,所述分区编号是分配给以规定的间隔对所述基准形状数据所表示的三维表面形状进行划分而形成的每个分区的编号,
所述检查装置还具有输出部,所述输出部构成为,使表示由所述不良确定部所确定的成型不良部位的信息和该成型不良部位的位置所对应的分区的分区编号建立对应并进行输出。


5.根据权利要求4所述的检查装置,其特征在于,
所述输出部构成为,在所述检查对象物上标记记号,该记号表示由所述不良确定部所确定的成型不良部位的内容以及与该成型不良部位的位置相对应的分区编号。


6.根据权利要求1~5中任一项所述的检查装置,其特征在于,
所述检查装置还具有光泽测量部、划痕确定部、以及警报输出部,
所述光泽测...

【专利技术属性】
技术研发人员:与语照明
申请(专利权)人:株式会社欧普同
类型:发明
国别省市:日本;JP

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