测量装置及荧光测量方法制造方法及图纸

一种测量装置，用于测量与多种染料混合的样本，在具有不同波长的光的照射下，每种染料的透射光或辐射光的强度，该测量装置包括：光源单元，能够用具有所述不同波长的光照射所述样本；光接收单元，用于接收所述透射光或辐射光，并输出一个与所述接收光 的强度对应的电信号；及计算部分，其中，所述计算部分利用一个校正系数，计算出每种所述染料的透射光或辐射光的强度，所述校正系数是根据在所述光源单元用具有互不相同的波长的光照射多个校正样本中的每一个样本时，所述光接收单元所输出的一个电信号 计算得到的，每个校正样本与所述多种染料中的一种混合，并且所述各个被混合的染料彼此各不相同。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测量装置，用于测量当与多种染料(coloringmatter)混合的样品，在波长与各种染料对应的光的照射下时，每种染料的发射光或辐射光的强度。更特别地，本专利技术涉及一种荧光测量装置及一种荧光测量方法，当样品与多种荧光染料混合时，用具有该荧光染料的激励波长(excitation wavelength)的光照射所述样品，以测量由照射光激发的荧光。
技术介绍
近年来，用荧光测量、吸光度测量、或反射率测量来完成各种成分分析、基因诊断等等。例如，在利用荧光测量的成分分析中，用光照射与染料(荧光染料)混合的样品，测量受照射光激发的荧光的强度，从而检测出用染料(荧光染料)标识的物质。在利用吸光度测量的成分分析中，例如在JP 9-21749A中所公开的，用波长与染料对应的光照射与该染料混合的样品，测量透射光的强度，求出吸光度，从而检测出用染料标识的物质。在利用反射率测量的成分分析中，测量散射光而非透射光的强度，求出反射率，从而检测出用染料标识的物质。在利用上述成分分析法检测多种物质的情况下，样品与多种不同种类的染料混合，这些染料根据所检测物质而变化，分别用与每种染料对应的光照射该样品。在荧光测量的情况下，例如在JP 2000-503774A中所公开的，成分分析是这样完成的，即用具有每种染料的激励波长的光，分别照射与具有不同激励波长及荧光波长的多种染料(荧光染料)混合的样品，测量该染料的荧光强度。在吸光度测量的情况下，成分分析是这样完成的，即用具有每种染料的吸收波长的光，分别照射与具有不同吸收波长的多种染料混合的样品，测量每种染料的透射光的强度。但是，通常，染料的激励波长、吸收波长、及反射波长具有一定的带宽。因此，在荧光测量时，如果使用的所述染料(荧光染料)的激励峰值波长接近，则当特定染料受具有其激励波长的光激发时，其它染料也可能受该光激发。这时，测得的荧光强度是将每种受激染料的荧光强度合成而得的值，因而难于进行精确的成分分析、基因诊断等等。同样，吸光度测量和反射率测量也是这样的。具体来说，测得的值是将每种染料的透射光或散射光的强度合成而得的透射光或散射光的合成强度，因而难于进行精确的成分分析、基因诊断等等。本专利技术的目的是提供一种测量装置及一种荧光测量方法，其能够从透射光或辐射光的强度的合成值中，分离和测量出每种染料的实际强度。专利技术概述为实现上述目的，本专利技术的测量装置是用来在与多种染料混合的样本被具有不同波长的光的照射的情况下，测量每种染料的透射光或辐射光的强度。该测量装置包括光源单元，能够用具有所述不同波长的光照射所述样本；光接收单元，用于接收所述透射光或辐射光，并输出一个与所述接收光的强度对应的电信号；及计算部分。所述计算部分利用一校正系数计算出每种所述染料的透射光或辐射光的强度，所述校正系数是基于在所述光源单元用具有互不相同的波长的光，照射多个校正样本中的每一个样本时所述光接收单元输出的一个电信号求得的，所述每个校正样本与所述多种染料中的一种混合，所述被混合的荧光染料彼此各不相同。在本专利技术的测量装置中，所述样本可以与作为染料的、具有不同激励波长的荧光染料混合。所述光接收单元可以接收所述荧光染料的荧光，并输出一个与所接收的荧光的荧光强度对应的电信号。所述计算部分可以利用一校正系数计算出从该样本发射出的每种所述荧光染料的荧光的荧光强度，所述校正系数是基于所述光接收单元在所述光源单元用具有与所述多种荧光染料对应的激励波长的光，照射多个校正样本的每一个样本时所输出的一个电信号求得的，每个校正样本与所述多种荧光染料中的一种混合，所述各个被混合荧光染料彼此各不相同。在这个实施方式中，本专利技术的测量装置用作荧光测量设备。在该测量装置用作荧光测量装置的实施方式中，优选，校正系数为一矩阵(aij(i＝1，2，...，n；j＝1，2，...，n))，其满足公式(1)a11a12a13a14a1na21a22a23a24···a2na31a32a33a34···a3na41a42a43a44···a4n··················an1an2an3an4···ann·Y1Y2Y3Y4···Yn=X1X2X3····Xn··············(1)]]>其中，混合于所述样本中的多种荧光染料编号为1，...，n，当光源单元用具有第K种荧光染料(K＝1，2，...，n)的激励波长的光照射该样本时，由所述光接收单元输出的电信号的输出值用XK表示，第K种荧光染料的荧光强度用YK表示。所述计算部分将矩阵(aij)和输出值X1，...，Xn代入公式(1)中，从而求出作为所述荧光染料的荧光强度的荧光强度Y1，...，Yn。进一步，在该测量装置用作荧光测量装置的实施方式中，优选，测量装置具有一光量监测器，用于检测由所述光源单元射出的光的光量，并向所述计算部分输出一个信号。所述计算部分根据所述光量监测器输出的信号，校正输出值X1到Xn或矩阵元素a11到ann。其次，为实现上述目的，本专利技术的荧光测量方法是这样一种方法，通过使用能够发射具有不同波长的光的光源单元，和用于接收荧光染料的荧光并输出一个与所接收的荧光的荧光强度对应的电信号的光接收单元，来测量多种荧光染料中的每种染料的荧光的荧光强度的方法，所述荧光由与具有不同激励波长的多个荧光染料混合的样本发射。该方法包括利用一校正系数，计算出从样本发射出的每种荧光染料的荧光的荧光强度。所述校正系数是这样计算的，每个校正样本与所述多种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：中岛真也，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：