测量装置及荧光测量方法制造方法及图纸

一种测量装置，用于测量与多种染料混合的样本，在具有不同波长的光的照射下，每种染料的透射光或辐射光的强度，该测量装置包括：光源单元，能够用具有所述不同波长的光照射所述样本；光接收单元，用于接收所述透射光或辐射光，并输出一个与所述接收光 的强度对应的电信号；及计算部分，其中，所述计算部分利用一个校正系数，计算出每种所述染料的透射光或辐射光的强度，所述校正系数是根据在所述光源单元用具有互不相同的波长的光照射多个校正样本中的每一个样本时，所述光接收单元所输出的一个电信号 计算得到的，每个校正样本与所述多种染料中的一种混合，并且所述各个被混合的染料彼此各不相同。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测量装置，用于测量当与多种染料(coloringmatter)混合的样品，在波长与各种染料对应的光的照射下时，每种染料的发射光或辐射光的强度。更特别地，本专利技术涉及一种荧光测量装置及一种荧光测量方法，当样品与多种荧光染料混合时，用具有该荧光染料的激励波长(excitation wavelength)的光照射所述样品，以测量由照射光激发的荧光。
技术介绍
近年来，用荧光测量、吸光度测量、或反射率测量来完成各种成分分析、基因诊断等等。例如，在利用荧光测量的成分分析中，用光照射与染料(荧光染料)混合的样品，测量受照射光激发的荧光的强度，从而检测出用染料(荧光染料)标识的物质。在利用吸光度测量的成分分析中，例如在JP 9-21749A中所公开的，用波长与染料对应的光照射与该染料混合的样品，测量透射光的强度，求出吸光度，从而检测出用染料标识的物质。在利用反射率测量的成分分析中，测量散射光而非透射光的强度，求出反射率，从而检测出用染料标识的物质。在利用上述成分分析法检测多种物质的情况下，样品与多种不同种类的染料混合，这些染料根据所检测物质而变化，分别用与每种染料对应的光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：中岛真也，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：