一种LED寿命特征参量自动采集系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种LED寿命特征参量自动采集系统，包括LED寿命试验模块，包括用于放置待测LED的圆盘式测试台架，所述测试台架上设置有机械臂，所述机械臂上设置有检测模块，所述机械臂上还设置有驱动机械臂运动的执行机构；所述执行机构包括驱动机械臂旋转的旋转执行机构、驱动机械臂沿圆盘式测试台架径向运动的径向伸缩执行机构和驱动机械臂沿圆盘式测试台架轴向运动的轴向伸缩执行机构，本机构通过径向伸缩执行机构和轴向伸缩执行机构，使得本试验系统可以通过合理的拓扑扩展，实现扩大试验样本空间的目的，使寿命评估结果更加有效，同时本装置使用照度计实现照度的测量，而照度可与光通量通过函数关系转换，从而使得光通量的获取更简便准确。

【技术实现步骤摘要】
一种LED寿命特征参量自动采集系统
本技术涉及LED寿命检测领域，特别涉及一种LED寿命特征参量自动采集系统。
技术介绍
现有技术中，LED可以把电能转化成光能，其具备效率高，光色纯，应用灵活，光线质量高等特点，因此在许多光电控制设备中用作光源，在电子设备中用作信号显示器。然而LED在使用过程中，由于电流及外界环境的影响，其会不可避免的发生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封装的老化。芯片的老化机理，包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大，工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化，水汽渗入封装材料内部，导致引线变质、PCB铜线锈蚀，水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面，从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低，光色的纯度下降，甚至发生烧毁。但是LED的老化不易直接观察判断，由于应用数量巨大，也不易通过全部检测来判断。作为现代化节能环保的灯具，一旦发生老化或烧毁，电路将失去指示功能，对维修工作带来巨大的影响。这种现象对于某些重要电路，存在重大的安全隐患。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED寿命特征参量自动采集系统，包括LED寿命试验模块，其特征在于：包括用于放置待测LED的圆盘式测试台架(11)，所述测试台架(11)上设置有机械臂(12)，所述机械臂(12)上设置有光照度计(126)，所述机械臂(12)上还设置有驱动机械臂(12)运动的执行机构，所述光照度计(126)四周设置有高度可调的阻光模块(125)；/n所述执行机构包括驱动机械臂(12)旋转的旋转执行机构(122)、驱动机械臂(12)沿圆盘式测试台架(11)径向运动的径向伸缩执行机构(123)和驱动机械臂(12)沿圆盘式测试台架(11)轴向运动的轴向伸缩执行机构(124)；/n还包括控制模块和数据存储与显示...

【技术特征摘要】
1.一种LED寿命特征参量自动采集系统，包括LED寿命试验模块，其特征在于：包括用于放置待测LED的圆盘式测试台架(11)，所述测试台架(11)上设置有机械臂(12)，所述机械臂(12)上设置有光照度计(126)，所述机械臂(12)上还设置有驱动机械臂(12)运动的执行机构，所述光照度计(126)四周设置有高度可调的阻光模块(125)；
所述执行机构包括驱动机械臂(12)旋转的旋转执行机构(122)、驱动机械臂(12)沿圆盘式测试台架(11)径向运动的径向伸缩执行机构(123)和驱动机械臂(12)沿圆盘式测试台架(11)轴向运动的轴向伸缩执行机构(124)；
还包括控制模块和数据存储与显示模块，所述控制模块分别与执行机构、光照度计(126)、数据存储与显示模块连接。


2.如权利要求1所述的一种LED寿命特征参量自动采集系统，其特征在于：所述圆盘式测试台架(11)上设置有用于给予执行机构复位信号的原点定位孔(110)，所述原点定位孔(110)处设置有红外信号发射器(...

【专利技术属性】
技术研发人员：石颉，申海锋，孔维相，袁晨翔，
申请(专利权)人：苏州科技大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32