一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，包括暗盒，暗盒的侧壁上开设有插口，暗盒内水平设有与其内周壁相贴合的透明放置槽，透明放置槽与插口的底部齐平，透明放置槽用于放置由插口插入的样品板，暗盒的内顶壁和内底壁上均设有若干交错排列的LED紫外灯和LED白炽灯，LED紫外灯的波长范围为290nm‑400nm，LED白炽灯的波长范围为400nm‑780nm，暗盒的外顶壁上嵌设有具有透明窗口的放置槽，放置槽内可拆卸地设有摄像分析设备，暗盒的侧壁上设有第一开关和第二开关，第一开关控制LED紫外灯共同启闭，第二开关控制LED白炽灯共同启闭。本实用新型专利技术能在同一仪器中进行比色和荧光检测，占地面积小，使用效率高，携带方便，使用安全且工作效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪
本技术属于光学检测装置
，特备涉及一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪。
技术介绍
荧光发光分析和比色分析是两种广泛使用的快速检测和分析方法。由于目前是采用不同的检测分析装置来进行荧光发光分析和比色分析的，故使得占地面积大、携带不便、购置成本高且装置利用率低。同时由于现有的用于荧光发光分析的检测装置使用汞蒸气灯作为紫外光源，故使得能源利用率低、环境不友好且使用不安全。
技术实现思路
鉴于
技术介绍
存在的不足，本技术提供了一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，其所解决的技术问题是如何能在同一仪器中进行比色和荧光检测。为达到本技术的目的，采用的技术方案是：一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，包括暗盒，所述暗盒的侧壁上开设有插口，所述暗盒内水平设有与其内周壁相贴合的透明放置槽，所述透明放置槽与所述插口的底部齐平，所述透明放置槽用于放置由所述插口插入的样品板，所述暗盒的内顶壁和内底壁上均设有若干LED紫外灯和LED白炽灯，所述LED紫外灯和LED白炽灯交错排列，所述LED紫外灯的波长范本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，其特征在于：包括暗盒，所述暗盒的侧壁上开设有插口，所述暗盒内水平设有与其内周壁相贴合的透明放置槽，所述透明放置槽与所述插口的底部齐平，所述透明放置槽用于放置由所述插口插入的样品板，所述暗盒的内顶壁和内底壁上均设有若干LED紫外灯和LED白炽灯，所述LED紫外灯和LED白炽灯交错排列，所述LED紫外灯的波长范围为290nm-400nm，所述LED白炽灯的波长范围为400nm-780nm，所述暗盒的外顶壁上嵌设有具有透明窗口的放置槽，所述放置槽内可拆卸地设有摄像分析设备，所述暗盒的侧壁上设有第一开关和第二开关，所述第一开关控制所述LED紫外灯共同启闭，所述...

【技术特征摘要】
1.一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，其特征在于：包括暗盒，所述暗盒的侧壁上开设有插口，所述暗盒内水平设有与其内周壁相贴合的透明放置槽，所述透明放置槽与所述插口的底部齐平，所述透明放置槽用于放置由所述插口插入的样品板，所述暗盒的内顶壁和内底壁上均设有若干LED紫外灯和LED白炽灯，所述LED紫外灯和LED白炽灯交错排列，所述LED紫外灯的波长范围为290nm-400nm，所述LED白炽灯的波长范围为400nm-780nm，所述暗盒的外顶壁上嵌设有具有透明窗口的放置槽，所述放置槽内可拆卸地设有摄像分析设备，所述暗盒的侧壁上设有第一开关和第二开关，所述第一开关控制所述LED紫外灯共同启闭，所述第二开关控制所述LED白炽灯共同启闭。


2.根据权利要求1所述的一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，其特征在于：所述暗盒由不透光材料制成。


3.根据权利要求1所述的一种可兼容比色分析和荧光分析的检测仪，其特征在于：所述摄像分析设备为平板电脑或者手机。


4.根据权利要求1所述的一种可兼容比色分析和荧光分析的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭亚辉，张凯强，陈英，谢云飞，成玉梁，于航，钱和，姚卫蓉，
申请(专利权)人：江南大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32