同位素X荧光水泥多种成分分析仪制造技术

技术编号:2620496 阅读:297 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术提供一种同位素X荧光水泥多种成分分析仪,其轻元素探头采用特制的薄铍窗封闭式高分辨率正比计数管作探测器,环状Fe—55源作激发源,重元素探头采用低压大鼓形封闭式正比计数管作探测器,同时采用了512道微机多道谱仪和独特的数学介析技术,测量室不需抽真空,可以同时快速测定水泥物料中的CaO、Fe-[2]O-[3]、SiO-[2]、Al-[2]O-[3]、SO-[3]、K-[2]O、TiO-[2]等多种成分的含量及立窑(*该技术在2001年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种新型同位素X荧光水泥多种成分分析装置,它可以在非真空条件下同时快速分析水泥物料中多种成分的百分含量。水泥生产中必须控制石灰饱和比、硅率和铁率,此三个率值取决于CaO、Fe2O3、SiO2和Al2O3四种主要成分的含量,因此水泥生产控制中,希望能快速分析水泥生料和熟料中此四种成分的含量,以便及时调整原料配比。成品水泥中还需要定时分析SO3的含量,以调整石膏掺加量。立窑水泥生产控制中还需要及时测定和控制生料中煤的加入量,以达到保证烧成质量和节省能耗的目的。目前我国水泥厂中大多数仍由人工操作进行化学分析,分析速度慢,周期长,不能及时提供生产控制所要求的成分信息。国外现代化大型水泥厂采用的大型多道X荧光光谱仪价格昂贵,对环境条件及人员技术素质要求高,维护较困难。采用Si(Li)半导体探测器的X荧光能谱仪虽然较大型多道光谱仪便宜,但仍然比较昂贵,而且探测器需要用液氮冷却,对中国数以千计的大多数水泥厂来说明不易推广。老式的同位素X荧光分析仪如钙铁分析仪等虽然需要的投资少,但由于采用的同位素源对轻元素X荧光的激发效率极低,特别是由于所采用的探测器的窗口材料吸收严重,以致无法探测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由探头、多道谱仪和计算机构成的同位素X荧光水泥多种成分分析仪,其特征是所述的探头为双源探头,内装轻元素探头和重元素探头,两个探头按装在同一基板上,并由各自的同位素源、探测器、前置放大器和高压电源组成,各探头的同位素源均紧靠探测器窗口,与窗口同心,并向下照射;所述的多道谱仪为512道微机多道谱仪;所述计算机依靠其专用程序可给出水泥物料中钙、铁、硅、铝、硫、钾、钛的重量百分含量及黑生料或半黑生料中煤的加入量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:白友兆王亚林王益民杨李锋李桂兰李江
申请(专利权)人:中国建筑材料科学研究院水泥科学研究所
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

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