【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于模型的钳口中分类器相关申请的交叉引用本申请要求2018年9月27日提交的标题为“IN-THE-JAWCLASSIFIERBASEDONAMODEL”的美国非临时专利申请序列号16/144,391的权益,该非临时专利申请的公开内容全文以引用方式并入本文。本申请还要求2018年3月8日提交的标题为“ESTIMATINGSTATEOFULTRASONICENDEFFECTORANDCONTROLSYSTEMTHEREFOR”的美国临时专利申请序列号62/640,415的权益,该临时专利申请的公开内容全文以引用方式并入本文。
技术介绍
在外科环境中,智能能量装置可需要在智能能量架构环境中。超声外科装置诸如超声手术刀,因其独特的性能特征而用于外科手术的多种应用中。根据具体的装置配置和操作参数,超声外科装置可大体上同时提供组织的横切和通过凝固止血,从而有利地使患者创伤最小化。超声外科装置可包括包含超声换能器的手持件,以及联接到超声换能器的器械,该超声换能器具有安装在远侧的端部执行器(例如,刀末端)以切割并密封组织。在一些情况下,器械可永久 ...
【技术保护点】
1.一种用于评估超声装置的端部执行器的状态的方法,所述超声装置包括由预定谐振频率限定的机电超声系统,所述机电超声系统包括联接到超声刀的超声换能器,所述方法包括:/n由驱动电路向所述超声换能器施加驱动信号,其中所述驱动信号是由幅值和频率限定的周期性信号;/n由处理器或控制电路扫描所述驱动信号的从所述电磁超声系统的第一谐振以下到所述第一谐振以上的所述频率;/n由所述处理器或所述控制电路测量并记录阻抗/导纳圆变量R
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
【国外来华专利技术】20180308 US 62/640,415;20180927 US 16/144,3911.一种用于评估超声装置的端部执行器的状态的方法,所述超声装置包括由预定谐振频率限定的机电超声系统,所述机电超声系统包括联接到超声刀的超声换能器,所述方法包括:
由驱动电路向所述超声换能器施加驱动信号,其中所述驱动信号是由幅值和频率限定的周期性信号;
由处理器或控制电路扫描所述驱动信号的从所述电磁超声系统的第一谐振以下到所述第一谐振以上的所述频率;
由所述处理器或所述控制电路测量并记录阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be;
由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe、Be与参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较;以及
由所述处理器或所述控制电路基于比较分析的结果确定所述端部执行器的状态或状况。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与存储在所述超声装置的数据库中的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的打开且无负载的钳口夹具的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的钳口夹具的末端咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的钳口的末端咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的所述钳口夹具在一块潮湿油鞣革上的末端咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的钳口夹具的完全咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的钳口的完全咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的所述钳口夹具在一块干燥油鞣革上的完全咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
8.根据权利要求6所述的方法,其中,由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的钳口的完全咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较包括:由所述处理器或所述控制电路将所测量的阻抗/导纳圆变量Re、Ge、Xe和Be与对应于所述超声装置的所述钳口夹具在一块潮湿油鞣革上的完全咬合的参考阻抗/导纳圆变量Rref、Gref、Xref和Bref进行比较。
技术研发人员:F·B·斯图伦,
申请(专利权)人:爱惜康有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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