一种电子元器件失效原因定位方法技术

本发明专利技术公开了一种电子元器件失效原因定位方法，包括以下步骤：构建所述电子元器件的故障树；利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。本发明专利技术能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件失效原因定位方法
本专利技术属于失效分析
，尤其涉及一种电子元器件失效原因定位方法。
技术介绍
电子元器件失效分析是一门综合性较强的专业，需要专业工程师经过长期的积累才能形成快速、准确的失效分析能力。工程师需要专业的电子、电路分析设计能力，微电子技术，失效物理能力，试验分析能力以及较强的数学统计分析能力。鉴于其高昂的学习成本和复杂的失效机理，使得失效分析工作效率较低，周期较长，成本也难以控制。现有技术利用故障树分析法进行失效分析，即，采用逐级分析图形演绎方式和由上向下的分析路径，对可能导致系统故障的各种原因，按其上下因果关系，画出逻辑关系框图(故障树)，由此逻辑关系，计算底事件的重要度。故障树分析法从故障之间的定性关系来判断各种原因的重要度，而无法获得直观的定量概率。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种电子元器件失效原因定位方法，能够直观地得到造成失效现象的各个原因的发生概率，准确地对失效现象进行原因定位，提高失效分析的效率和准确性。为了实现上述目的，本专利技术实施例提供一种电子元器件失效原本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件失效原因定位方法，其特征在于，包括以下步骤：/n构建所述电子元器件的故障树；/n利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；/n将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；/n利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；/n通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件失效原因定位方法，其特征在于，包括以下步骤：
构建所述电子元器件的故障树；
利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络；
将失效分析案例按照贝叶斯网络的节点进行梳理，得到各个节点的案例统计信息；
利用各个节点的案例统计信息，计算各个节点对应的后验概率；
通过所述电子元器件的失效现象找到后验概率最大的节点对应的失效原因。


2.根据权利要求1所述的电子元器件失效原因定位方法，其特征在于，所述构建所述电子元器件的故障树包括：根据经验数据和历史案例数据，列出所述电子元器件的所有可能的失效模式、失效原因、失效机理，根据其间的相关关系构建故障树。


3.根据权利要求1或2所述的电子元器件失效原因定位方法，其特征在于，所述利用故障树到贝叶斯网络之间的映射方法，将故障树映射为贝叶斯网络包括：将故障树中的逻辑门与贝叶斯网络中的因果关系进行对应，将故障树中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王弘剑，彭泽亚，刘丽媛，王有亮，赵振博，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44