一种数据检查方法、数据检查装置及终端设备制造方法及图纸

本申请适用于数据处理技术领域，提供了一种数据检查方法、数据检查装置、终端设备及计算机可读存储介质，所述方法包括：当接收到检查指令时，获取待检查的物料清单表中的目标位号数据，其中，所述目标位号数据为所述检查指令在所述物料清单表中所指向的位号数据，所述位号数据属于元件位号字段；根据所述目标位号数据，在待检查的印制电路板设计图中确定目标元件，其中，所述目标元件与所述目标位号数据相对应；分析所述目标位号数据与所述目标元件，得到检查结果。通过上述方法，可以使得终端设备自动完成印制电路板设计图与物料清单表是否存在差异的检查。

【技术实现步骤摘要】
一种数据检查方法、数据检查装置及终端设备
本申请属于数据处理
，尤其涉及一种数据检查方法、数据检查装置、终端设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
在电子行业中，电子硬件的设计开发过程中会输出两种文件，分别是印制电路板设计图和物料清单表。检查印制电路板设计图与物料清单表是否存在差异是一项必不可少的工作。目前，印制电路板设计图与物料清单表是否存在差异的检查往往由人工完成，非常地耗时耗力。
技术实现思路
有鉴于此，本申请提供了一种数据检查方法、数据检查装置、终端设备及计算机可读存储介质，可以使得终端设备自动完成印制电路板设计图与物料清单表是否存在差异的检查。第一方面，本申请提供了一种数据检查方法，包括：当接收到检查指令时，获取待检查的物料清单表中的目标位号数据，其中，上述目标位号数据为上述检查指令在上述物料清单表中所指向的位号数据，上述位号数据属于元件位号字段；根据上述目标位号数据，在待检查的印制电路板设计图中确定目标元件，其中，上述目标元件与上述目标位号数据相对应；分析上述目标位号数据与上述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数据检查方法，其特征在于，包括：/n当接收到检查指令时，获取待检查的物料清单表中的目标位号数据，其中，所述目标位号数据为所述检查指令在所述物料清单表中所指向的位号数据，所述位号数据属于元件位号字段；/n根据所述目标位号数据，在待检查的印制电路板设计图中确定目标元件，其中，所述目标元件与所述目标位号数据相对应；/n分析所述目标位号数据与所述目标元件，得到检查结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种数据检查方法，其特征在于，包括：
当接收到检查指令时，获取待检查的物料清单表中的目标位号数据，其中，所述目标位号数据为所述检查指令在所述物料清单表中所指向的位号数据，所述位号数据属于元件位号字段；
根据所述目标位号数据，在待检查的印制电路板设计图中确定目标元件，其中，所述目标元件与所述目标位号数据相对应；
分析所述目标位号数据与所述目标元件，得到检查结果。


2.根据权利要求1所述的数据检查方法，其特征在于，所述分析所述目标位号数据与所述目标元件，得到检查结果，包括：
在所述物料清单表的元件数量字段中，计算与所述目标位号数据相关联的字段值之和，得到第一已选元件数量；
在所述印制电路板设计图中，统计所述目标元件的数量，得到第二已选元件数量；
将所述第一已选元件数量与所述第二已选元件数量进行比对，得到检查结果。


3.根据权利要求2所述的数据检查方法，其特征在于，所述将所述第一已选元件数量与所述第二已选元件数量进行比对，得到检查结果，包括：
判断所述第一已选元件数量与所述第二已选元件数量是否相等；
若所述第一已选元件数量与所述第二已选元件数量相等，则确定检查合格；
若所述第一已选元件数量与所述第二已选元件数量不相等，则筛查出所述目标位号数据中的多余位号数据，所述多余位号数据为在所述印制电路板设计图中不存在对应的元件的位号数据。


4.根据权利要求1所述的数据检查方法，其特征在于，所述分析所述目标位号数据与所述目标元件，得到检查结果，包括：
在所述物料清单表的元件封装字段中，读取与所述目标位号数据相关联的字段值，以得到第一元件封装数据；
获取所述目标元件的元件封装数据，以得到第二元件封装数据；
若所述第一元件封装数据与所述第二元件封装数据相同，则确定检查合格；
若所述第一元件封装数据与所述第二元件封装数据不相同，则确定检查不合格。


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【专利技术属性】
技术研发人员：林昌高，
申请(专利权)人：深圳市鼎盛光电有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44