一种存储介质特征数据库的构建及更新方法技术

本发明专利技术公开一种存储介质特征数据库的构建及更新方法，其包括存储介质特征数据案例构建模块、废旧电子设备硬件扫描及特征识别模块、特征数据比对模块、未知案例提取模块、未知案例更新模块。为了获得相对高效的信息清除方案，采用本发明专利技术的技术方案构建存储介质的特征数据库以便为不同类型的存储介质制定差异化的信息清除方案；同时，为适应众多的和不断更新的存储介质类型需要对存储介质特征数据库进行更新。

A method of constructing and updating characteristic database of storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种存储介质特征数据库的构建及更新方法
本专利技术属于移动终端
，尤其涉及一种存储介质特征数据库的构建及更新方法。
技术介绍
移动终端类设备和电脑等电子产品的更新换代速度逐渐加快。据统计，截至2015年10月，我国手机用户已达13.02亿，每年产生的废弃手机大约有2亿部，然而其回收率尚不足1％[1]，原因之一在于交投用户担心废旧手机内的隐私信息被泄露。通常，这些电子设备自身所带有的信息删除或格式化功能并不能真正地清除存储在这些存储介质上的数据信息，采用专用软件的非专业化处理即可恢复部分或全部数据[2]，这对个人隐私乃至国家安全都构成了严重的威胁[3]。信息清除是指采用各种技术手段将存储设备中的隐私数据予以彻底删除，数据覆写是目前最为有效和经济的方法之一[4]。文献[5]所提出的基于不同安全等级的信息清除策略是国内清除设备/软件的主流解决方案，但其采用的清除策略大多都是固定的，并未考虑存储介质的差异化特性。文献[6]给出了包含前端清除设备、后台服务器的信息清除系统整体设计理念，并提出全盘覆写和穿插区域随机覆写等方式提高清除效率。...

【技术保护点】
1.一种存储介质特征数据库的构建及更新方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1、基于不同类型的存储器/存储芯片建立标准化的存储介质硬件信息特征基础模型，并利用第三方设备/软件与不同废旧电子设备或存储设备进行硬件连接，通过扫描识别，获取不同存储介质的特征信息，同时结合获取生产厂家提供的硬件特征参数信息以及针对不同特征数据的信息清除方案参数，构建基础的存储介质特征数据库；/n步骤2、通过对待清除废旧电子设备的硬件扫描，获取待清除废旧电子设备的基础硬件信息和存储介质详细硬件参数；通过基础硬件信息与存储介质特征数据库中的案例进行匹配，得到待清除废旧电子设备的初始特征数据，若无法匹配到相似案例则将其视...

【技术特征摘要】
1.一种存储介质特征数据库的构建及更新方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、基于不同类型的存储器/存储芯片建立标准化的存储介质硬件信息特征基础模型，并利用第三方设备/软件与不同废旧电子设备或存储设备进行硬件连接，通过扫描识别，获取不同存储介质的特征信息，同时结合获取生产厂家提供的硬件特征参数信息以及针对不同特征数据的信息清除方案参数，构建基础的存储介质特征数据库；
步骤2、通过对待清除废旧电子设备的硬件扫描，获取待清除废旧电子设备的基础硬件信息和存储介质详细硬件参数；通过基础硬件信息与存储介质特征数据库中的案例进行匹配，得到待清除废旧电子设备的初始特征数据，若无法匹配到相似案例则将其视为未知案例；
步骤3、对扫描得到的存储介质详细硬件参数进行特征提取后，与初始特征数据进行比对，若比对差异在允许范围内，则将初始特征数据作为该待清除废旧电子设备的特征数据，并输出与该案例对应的信息清除方案参数；若比对差异超出允许范围，则根据提取到的特征数据与存储介质特征数据库中案例进行特征数据匹配，若匹配到相似案例，则将该案例对应的信息清除方案参数输出，若未匹配到相似案例，则视之为未知案例；
步骤4、依据存储介质特征数据库中不同标准特征集模型分别对未知案例信息进行特征数据提取，并与标准模型对应的案例集进行特征数据校验，选取综合差异值在允许范围内最小的标准特征集模型作为新案例的初始特征集模型，若校验结果均超出允许范围，需将该案例信息提供给后台服务器，进行案例添加并建立相应标准特征集模型；
步骤5、对初始特征集模型进行修正，修正后的特征集模型与其对应的衍生模型进行比对，依据比对结果更新相应衍生特征集模型/添加新的衍生特征集模型，并添加新案例的特征数据至存储介质特征数据库。


2.如权利要求1所述的存储介质特征数据库的构建及更新方法，其特征在于，步骤3具体为：
步骤31、根据待清除废旧电子设备的存储介质初始特征集的特征集模型，建立特征数据提取器，将存储介质详细硬件参数进行归类整理、分析提取形成标准格式的特征数据；
步骤32、基于初始特征集对应的标准特征集模型对提取到的特征数据与匹配到的初始特征数据进行比对；即，根据标准特征集模型提取并构建出进行比对的实际特征数据和案例特征数据，这些特征数据均表现为标准化数据，可直接依据特征数据比对器中规则进行数值比较，特征数据比对器根据各项比对结果及相应规则计算出综合差异值，若该值在允许范围内，则认为匹配到的初始特征数据符合实际存储介质特征，将初始特征数据作为该待清除废旧电子设备的实际特征数据，并将匹配到的案例对应的信息清除方案参数进行输出；若差异值超出允许范围，则认为匹配到的初始特征数据不符合实际存储介质特征，需要依据提取到的特征数据与存储介质特征数据库中的案例进行特征数据匹配；
步骤33、在特征数据匹配器中，逐一调取存储介质特征数据库中案例，将案例对应的特征集依据标准特征集模型进行简化，再进行逐一的相似性...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤健，王丹丹，周晓钟，罗宏基，王晖，禹明生，韩红桂，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：北京;11