一种用于透射电镜系统的样品杆及相应透射电镜系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述样品杆(12)包括：前端头和样品杆本体；其中，所述前端头的第一端与所述样品杆本体相接，所述前端头的第二端上安装有样品，所述样品杆本体内部具有从其一端延伸到另一端并对向所述前端头上所述样品的光纤(21)。在本发明专利技术的透射电镜系统中，首先激光经偏振分光棱镜分成物光波和参考光波，其中物光波经过样品杆的光纤之后与参考光波在图像采集器件处发生离轴干涉，然后经数值重建得到物光波的共轭相位信息，并加载至空间光调制器，实现光波的时间反演，进而在透射电镜系统中的实现激光聚焦及其自动扫描。

【技术实现步骤摘要】
一种用于透射电镜系统的样品杆及相应透射电镜系统
本专利技术涉及透射电子显微镜
，更具体地，涉及一种用于透射电镜系统的样品杆及相应透射电镜系统。
技术介绍
探索材料原子结构、电子结构与其物理性质的对应关系是凝聚态物理研究的最重要任务之一，目前在实验技术上还是一个挑战。光谱学技术可用于研究材料的光谱产生及其与物质之间的相互作用，是自然科学研究中一直受到重视的方向，具有重要的应用前景，如动力学过程和原子能级结构等。发展超高空间分辨的光谱学表征技术，测量研究纳米体系激发态及其动力学过程的微观机理，对于开拓凝聚态物理研究新的研究方向和应用领域具有重要的意义。最近几年透射电子显微镜的发展将结构表征能力推进到了原子尺度，并可在原子尺度表征电子结构。同时，光谱学表征技术的发展，以及飞秒激光技术的出现和应用，使得探测超快的物理和化学过程，尤其是动态瞬时和中间过程成为可能。但商业的电镜仅仅具有结构表征能力，功能单一，无法与材料物性直接关联。如果能研发一种在透射电子显微镜中原位光谱表征的测量系统，以用来研究材料微观结构和性质的直接联系，这不论是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述样品杆(12)包括：前端头和样品杆本体；其中，所述前端头的第一端与所述样品杆本体相接，所述前端头的第二端上用于安装样品，所述样品杆本体内部具有从其一端延伸到另一端并对向所述前端头上安装的所述样品的光纤(21)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述样品杆(12)包括：前端头和样品杆本体；其中，所述前端头的第一端与所述样品杆本体相接，所述前端头的第二端上用于安装样品，所述样品杆本体内部具有从其一端延伸到另一端并对向所述前端头上安装的所述样品的光纤(21)。


2.根据权利要求1所述的用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述光纤的光路中设置有空间光调制器，所述空间光调制器上加载有与经由所述光纤传输的前序光波对应的共轭相位信息，所述透射电镜系统包括透射电子显微镜的激光引导系统，所述透射电子显微镜从与所述样品杆延伸方向不同的方向聚焦于所述样品，所述激光引导系统发出的激光经由所述光纤照射至所述样品。


3.根据权利要求1所述的用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述前端头包括：样品固定件和三维定位装置，样品固定件用于固定所述样品，所述光纤(21)延伸进入所述前端头并且其前端由所述三维定位装置进行定位，所述前端头还包括后端外壳和前端支架，所述后端外壳与所述样品杆本体相接，所述前端支架呈U型，所述样品固定件安装在所述前端支架上，所述三维定位装置固定在所述后端外壳内。


4.根据权利要求2所述的用于透射电镜系统的样品杆，其特征在于，所述样品杆前端还设置有第一图像采集器件，所述激光被分为物光波和参考光波，所述空间光调制器对入射至所述光纤的参考光波进行调制并与所述物光波发生离轴干涉，所述第一图像采集器件采集离轴干涉的数字全息图，所述空间光调制器获取由所述数字全息图重建的共轭相位信息并加载所述共轭相位信息，对入射至所述光纤的激光进行调制。


5.一种包括权利要求1-4之一所述的样品杆以实现光学聚焦和自动扫描的透射电镜系统，其特征在于，所述透射电镜系统还包括：透射电子显微镜和激光引导系统，所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品，所述激光引导系统用于将激光从所述光纤(21)的第一端引导进入所述光纤，所述光纤(21)的第二端从第二方向对向所述样品。


6.根据权利要求5所述的透射电镜系统，其特征在于，所述激光引导系统包括：激光器、偏振分光器件、空间光调制器、相位重建模块、第一图像采集器件和第二图像采集器件，其中，所述激光器用于产生线偏振激光，...

【专利技术属性】
技术研发人员：马超杰，刘畅，刘开辉，王恩哥，白雪冬，
申请(专利权)人：中国科学院物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11